[实用新型]一种用于检测黑边的EL测试平台有效
申请号: | 201720684162.0 | 申请日: | 2017-06-13 |
公开(公告)号: | CN207068799U | 公开(公告)日: | 2018-03-02 |
发明(设计)人: | 李琰琪;刘国;王栩生;涂修文;邢国强 | 申请(专利权)人: | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人: | 胡彬 |
地址: | 215129 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 检测 el 测试 平台 | ||
技术领域
本实用新型涉及光伏技术领域,尤其涉及一种用于检测黑边的EL测试平台。
背景技术
目前,太阳能电池组件在8月份开始正式收严电池黑边宽度标准,其黑边宽度由<20mm变更为≤10mm。为满足该标准,有人认为黑边可以在PL(photoluminescence,光致发光测试仪)上做出排除,即在硅片扩散过程中,通过扩散吸杂,消除黑边,但实际上,这种方式只能使黑边通过扩散减轻,但硅片在扩散过程中减轻多少并不能够准确控制,从而在硅片形成组件后,其黑边的宽度更加难以得到保证。除此之外,也有人认为,黑边片可以通过EL(Electroluminescent,电致发光测试仪)图像排除,即在组件层压后,通过测试层压后EL黑边长度来判断电池片EL测试的黑边长度,但这种方式测试时,由于EVA和玻璃具有一定折射率,不同的EVA和玻璃具有不同的折射率,所以层压前相同的黑边长度也会由于不同EVA与玻璃组合层压出宽度不同的黑边,这导致电池片EL测试的黑边长度大于层压后的EL黑边长度,而层压前黑边宽度不等同于层压后的黑边宽度,因而其黑边的宽度同样难以准确测量。
因此,如何准确检测电池片黑边宽度成了亟需解决的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提出一种用于检测黑边的EL测试平台,能够有效检测组件的黑边宽度,测试可靠,一致性好。
为达此目的,本实用新型采用以下技术方案:
一种用于检测黑边的EL测试平台,包括:
EL测试仪的平台,待测电池片放置于所述平台上;
EVA膜,设置于所述平台上方并与待测电池片上下对应,所述EVA膜的底面间隔排布有若干探针;
玻璃,设置于所述EVA膜顶面;
伸缩件,立设于所述平台上,能够带动所述玻璃、所述EVA膜一起上下运动,及
卡板,设置于所述平台上并位于所述玻璃、所述EVA膜的侧部,能够使所述玻璃、所述EVA膜紧压于待测电池片上。
作为一种优选,所述伸缩件为杆状伸缩结构或弹簧,其顶端穿过并连接于所述EVA膜和所述玻璃。
作为一种优选,所述伸缩件至少有两个,且至少两个所述伸缩件位于所述玻璃的不同侧。
作为一种优选,所述伸缩件为两个,两个所述伸缩件位于所述玻璃的相对侧或位于所述玻璃的同一对角线的两个顶角处。
作为一种优选,所述伸缩件为四个,四个所述伸缩件位于所述玻璃的四个侧部或位于所述玻璃的四个顶角处。
作为一种优选,所述探针为带状探针。
作为一种优选,所述卡板包括可转动连接于所述平台的连接部和设置于所述连接部顶部的卡合部,所述连接部能够相对于所述平台摆动以使所述卡合部卡设于所述玻璃顶部或远离所述玻璃。
作为一种优选,所述卡板包括固定连接于所述平台的连接部和可转动连接于所述连接部顶部的卡合部,所述连接部位于所述玻璃、所述EVA膜的侧部,所述卡合部能够相对于所述连接部翻转以卡设于所述玻璃顶部或远离所述玻璃。
作为一种优选,所述卡板包括滑动设置于所述平台的连接部和设置于所述连接部顶部的卡合部,所述连接部位于所述玻璃、所述EVA膜的侧部,所述卡合部能够跟随所述连接部滑动以卡设于所述玻璃顶部或远离所述玻璃。
作为一种优选,所述平台的顶部开设有用于放置待测电池片的凹槽,所述凹槽的深度小于待测电池片的厚度。
本实用新型的有益效果为:
本实用新型的用于检测黑边的EL测试平台,通过在现有的EL测试仪的平台上设置EVA膜与玻璃,在EVA膜的底面间隔排布有若干探针,利用伸缩件,将EVA膜和玻璃设置于平台上方并能够带动玻璃、EVA膜一起上下运动,因而在测试时,将待测电池片放置在平台上,下压玻璃,从而使得EVA膜和玻璃接触待测电池片,再用卡板使玻璃、EVA膜紧压于待测电池片上实现固定,该待测电池片和EVA膜、玻璃共同形成了电池组件结构,在这种情况下通过探针测试黑边待测电池片的黑边宽度,就能够保证测试结果为最终组件的黑边宽度,因而不受到任何操作工艺或者人为因素的影响,使得测试可靠,一致性好。
附图说明
图1是本实用新型的EL测试平台的整体结构示意图。
图2是图1中的EL测试平台的俯视结构示意图。
图中:10-平台;20-电池片;30-EVA膜;31-探针;40-玻璃;50-伸缩件;60-卡板;61-连接部;62-卡合部。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州阿特斯阳光电力科技有限公司,未经苏州阿特斯阳光电力科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720684162.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种晶圆的厚度量测装置
- 下一篇:一种输出空气阻隔室
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造