[实用新型]用于化学发光检测的探测单元、电子暗盒压片装置有效
申请号: | 201720692364.X | 申请日: | 2017-06-14 |
公开(公告)号: | CN206945543U | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
发明(设计)人: | 淳洁 | 申请(专利权)人: | 淳洁 |
主分类号: | G01N21/76 | 分类号: | G01N21/76 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙)31219 | 代理人: | 张新鑫,许亦琳 |
地址: | 200042 上海市静*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 化学 发光 检测 探测 单元 电子 暗盒 压片 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种用于化学发光检测的探测单元、电子暗盒压片装置。
背景技术
将生物大分子从凝胶转移到一种固定基质膜上的过程称为印迹技术,己广泛用于DNA、RNA、蛋白质的检测。蛋白质印迹法(Western Blot)是分子生物学、生物化学和免疫遗传学中常用的一种实验方法。其基本原理是通过特异性抗体对凝胶电泳分离过的细胞或生物组织样品进行着色。通过分析着色的位置和着色深度获得特定蛋白质在所分析的细胞或组织中表达情况的信息。
蛋白印迹膜化学发光检测是生物化学实验中最为常用的蛋白分析技术手段之一,可以对蛋白进行定性和定量分析。目前的化学发光印迹膜的检测方法有两种:暗盒压片(胶片感光)和电子CCD影像生成。暗盒压片的原理是利用照相胶片对印迹膜发光信号进行直接感光,从而获得印迹膜上的化学发光信号强度。电子CCD检测技术则是使用电感耦合电子器件捕捉印迹膜上的发光信号,光信号在CCD芯片上被转化为电子信号,从而实现检测。以上两种方法各有其优缺点:胶片暗盒压片装置简单且灵敏度高,但需手工定影显影,显影液中含有剧毒氰化物,最大劣势是不能直接获得数字化检测结果(结果保存在胶片上);电子CCD技术可直接获得数字化检测结果,但灵敏度不及暗盒压片,并且装置较大较复杂。所以,暗盒压片蛋白印迹膜检测技术虽然有20年以上的使用历史,但仍未被电子CCD技术所取代,依然是该领域的主流技术。
多种基于半导体集成材料的平板探测器都可将光信号转换为电信号,在光电二极管或晶体管自身的电容上形成存储电荷,其存储电荷量与入射光线强度成正比,在控制电路的作用下,扫描读出像元的存储电荷,经A/D转换后输出数字信号,传送给计算机生成对应数字影像。平板探测器检测技术具有空间分辨率高、可常温操作、感光面积大等优点,该技术已广泛应用于医疗DR设备及工业探伤设备(均为X射线检测),但未见其用于化学发光(即可见光)检测的装置报道。
实用新型内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本实用新型的目的在于提供一种用于化学发光检测的探测单元、电子暗盒压片装置,用于解决现有技术中的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,所述暗盒中设置平板探测单元,所述平板探测单元平置在暗盒中,所述暗盒包括上盒体和下盒体,所述上盒体和所述下盒体匹配,所述平板探测单元位于上盒体或者下盒体中;当所述平板探测单元位于上盒体中时,所述下盒体内还设有检测平台,所述检测平台平置于平板探测单元下方1~2mm处;当所述平板探测单元位于下盒体中时其本身作为检测平台。
所述上盒体和所述下盒体匹配是指上盒体盖在下盒体上时,可以形成一个密闭的空间。
当平板探测单元位于上盒体,所述检测平台用于放置被检测物,例如印迹膜;当所述平板检测单元自身作为检测平台时,其自身即可以用来放置和支撑被检测物,同时可以用来检测被检测物。
所述平置可以是水平的或者具有微小倾斜度的放置,最优选方案是水平放置。
在本实用新型中,所述平板探测器则不带有碘化铯涂层,可直接检测化学发光对应波长。
优选地,所述平板探测单元选自非晶硅光电晶体管阵列探测器、非晶硅光电二极管阵列探测器、低温多晶硅光电晶体管阵列探测器或晶体硅光电晶体管阵列探测器中的任意一种。
非晶硅光电晶体管阵列探测器,是采用非晶硅TFT(a-Si Thin Film Transistor)制作工艺制成,具有PIN结构。
非晶硅光电二极管阵列探测器是采用非晶硅TFD(a-Si Thin Film Diode)制作工艺制成的。
低温多晶硅光电晶体管阵列探测器是采用低温多晶硅LTPS(Low Temperature Poly-Silicon,p-Si)制作工艺制成的。
晶体硅光电晶体管阵列探测器是采用整块硅单晶作为材料使用集成电路工艺制作的。
更优选地,所述平板探测单元采用光电二极管阵列探测器。
优选地,所述探测单元还包括信号读出模块,所述信号读出模块连接平板探测单元。信号读出模块可以采用低功耗数字集成电路,将列脉冲信号转换为串行脉冲信号。
优选地,所述平板探测单元封装在透明保护层中。更优选地,所述透明保护层可以选用石英玻璃、或经表面钝化处理的玻璃、经表面钝化处理的硬质塑料。
优选地,所述平板探测单元的像元间距为50um~300um。
优选地,所述平板探测单元为矩形,更优选地,所述矩形的形状为6cm x 8cm;
优选地,所述暗盒的长10~20cm,宽8~15cm,高2~8cm;
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