[实用新型]一种一体化单元热释电探测器参数测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试系统，特别涉及一种一体化单元热释电探测器参数测试系统。

背景技术

热释电红外传感器是基于热电效应原理的热电型红外传感器，其内部的热电元由高热电系数的铁钛酸铅汞陶瓷以及钽酸锂、硫酸三甘铁等配合虑光镜片窗口组成，其极化随温度的变化而变化。热释电红外传感器由传感探测元、干涉滤光片和场效应管匹配器三部分组成。设计时应将高热电材料制成一定厚度的薄片，并在它的两面镀上金属电极，然后加电对其进行极化，这样便制成了热释电探测元。由于其本身不发任何类型的辐射，器件功耗很小、隐蔽性好、价格低廉，所以热释电红外探测器已经广泛地用于辐射和非接触式温度测量、红外光谱测量、激光参数测量、工业自动控制、空间技术、红外摄像中。因为其制作成本低，且性能优良，所以具有非常广泛的应用。因此，不管是研制、生产和使用单位，对于热释电探测器性能参数的可靠测量就显得尤其重要。但是热释电探测器的以下缺点，使得热释电探测器的参数测试成为一个难题，主要体现在：1、容易受各种热源、光源干扰；2、被动红外穿透力差，人体的红外辐射容易被遮挡，不易被探头接收；3、易受射频辐射的干扰；4、环境温度和人体温度接近时，探测和灵敏度明显下降，有时造成短时失灵。

常温下工作的热释电探测器所响应的波段范围为1.3μm～20μm，而周围热辐射噪声的波段也大处于这一个波段范围，因此要准确的测定热释电探测器参数就需要严苛的试验条件。现有的热释电探测器的技术缺点：1、成本高，要实现准确的测试，往往需要配备高成本的专业光学屏蔽室；2、噪声干扰大，在没有屏蔽室的条件下测试，周围热辐射和电磁干扰噪声过大，影响参数的准确测试；3、集成化程度低，因为要测试热释电探测器的相关参数，目前大部分测试方法为临时搭建测量系统，而人为搭建复杂的测试系统，会导致操作复杂，且测量效率低；4、不确定度变量因素多，使用离散搭建的系统平台引入了更多的不确定度。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种方便对热释电探测器进行测试，测试结果可靠性好，测试效率高的一体化单元热释电探测器参数测试系统。

为了实现上述目的，本实用新型的技术方案如下：

如图所示，一种一体化单元热释电探测器参数测试系统，包括辐射屏蔽室、标准辐射源、主控机以及数据采集及分析模块，数据采集及分析模块设置在主控机上，主控机与数据采集及分析模块通过信号线连接；标准辐射源与辐射屏蔽室之间设有信号调制器；辐射屏蔽室内设有电磁屏蔽腔，电磁屏蔽腔内设有夹具，辐射屏蔽室的外部设有准直器；辐射屏蔽室的内部设有数据采集与控制模块，数据采集与控制模块与主控机连接。

进一步地，所述电磁屏蔽腔安装在高度调节架上，高度调节架安装在辐射屏蔽室的内底部。

进一步地，所述辐射屏蔽室的内底部上设有导轨，高度调节架安装在导轨上。

进一步地，所述辐射屏蔽室的内顶部设有温度控制模块；电磁屏蔽腔的外部安装有温度传感器，温度传感器与温度控制模块连接。

进一步地，所述数据采集与控制模块与主控机通过导线连接。

进一步地，所述标准辐射源为红外光源或黑体辐射源。

进一步地，所述辐射屏蔽室、标准辐射源以及信号调制器安装在底座上。