[实用新型]测量仪检测不合格产品的结构

权利要求书

1.测量仪检测不合格产品的结构，包括测量平台（1）和千分表（2），其特征在于：所述测量平台（1）的上方安装有固定件（3），所述固定件（3）的下方一侧安装有参考点固定部件（4），所述参考点固定部件（4）的下端安装在测量平台（1）的上表面，所述测量平台（1）上表面在参考点固定部件（4）下端的一侧放置有被测量部件（5），所述千分表（2）安装在固定件（3）上，并且在所述的参考点固定部件（4）上端的一侧，所述千分表（2）的下端放置在被测量部件（5）的上表面。

2.根据权利要求1所述的测量仪检测不合格产品的结构，其特征在于：所述测量平台（1）和千分表（2）测针的表面平整度的允许偏差均为0.05毫米。

3.根据权利要求1所述的测量仪检测不合格产品的结构，其特征在于：所述千分表（2）测针的地平面和测量平台（1）的上表面保持平行。

4.根据权利要求1所述的测量仪检测不合格产品的结构，其特征在于：所述千分表（2）测针的下端与参考点固定部件（4）的下端之间存在高度差。

5.根据权利要求1所述的测量仪检测不合格产品的结构，其特征在于：所述参考点固定部件（4）的上端固定安装在固定件（3）的下端一侧。