[实用新型]一种测试夹具及测试系统

权利要求书

1.一种测试夹具，其特征在于，包括：电源接入模块、第一测试探针、第二测试探针；

所述电源接入模块的第一连接端与所述第一测试探针连接；

所述电源接入模块的第二连接端与所述第二测试探针连接；

其中，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的正极连接；

所述第一测试探针为所述测试夹具的直流电源正极输出端，所述第二测试探针为所述测试夹具的直流电源负极输出端。

2.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述电源接入模块包括：第一选通元件、第二选通元件、第三选通元件、第四选通元件；

所述电源接入模块的第一连接端与，所述第一选通元件的负极和所述第二选通元件的负极相连接；

所述电源接入模块的第二连接端与，所述第三选通元件的正极和所述第四选通元件的正极相连接；

所述电源接入模块的第三连接端与，所述第一选通元件的正极和所述第四选通元件的负极相连接；

所述电源接入模块的第四连接端与，所述第二选通元件的正极和所述第三选通元件的负极相连接；

其中，所述第一选通元件、所述第二选通元件、所述第三选通元件、所述第四选通元件均为单向导通的元件。

3.根据权利要求2所述的测试夹具，其特征在于，所述第一选通元件、所述第二选通元件、所述第三选通元件、所述第四选通元件为型号相同的肖特基二极管。

4.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，

所述第一测试探针用于与待测试的主板的正极连接，所述第二测试探针用于与所述待测试的主板的负极连接。

5.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述电源接入模块用于以插接的方式与所述直流电源连接。

6.根据权利要求2所述的测试夹具，其特征在于，

所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四 连接端与所述直流电源的负极连接，所述第一选通元件和所述第三选通元件处于导通状态，所述第二选通元件和所述第四选通元件处于截止状态；

或者，所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的正极连接，所述第二选通元件和所述第四选通元件处于导通状态，所述第一选通元件和所述第三选通元件处于截止状态。

7.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述测试夹具还包括：至少一个射频信号测试探针；

所述射频信号测试探针用于对待测试的主板的射频信号传导性能进行测试。

8.一种测试系统，其特征在于，用于主板表面贴装技术SMT测试，包括权利要求1至7任一项所述的测试夹具、直流电源和待测试的主板；

所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的正极连接；

所述测试夹具的所述第一测试探针与所述待测试主板的正极连接，所述第二测试探针与所述待测试主板的负极连接。

9.根据权利要求8所述的测试系统，其特征在于，

所述测试夹具的射频信号探针与所述待测试的主板的射频信号连接座连接。