[实用新型]夹具和试验装置

说明书

本实用新型提供的夹具和试验装置，涉及试验设备领域。所述试验装置包括夹具和测试外设，所述测试外设包括电源、负载和测试网络，所述夹具包括电性能连接座子和测试电路，所述测试电路设置在所述电性能连接座子上，所述电源、所述负载和所述测试网络均与所述测试电路连接。通过所连接的测试网络即可实现空载测试，通过所连接的测试网络、电源和负载即可完成带载测试。能提供待测设备准确的带载测试效果，测量误差在可控范围内，且带载测试时，产品安装方便，满足产品带载测试的相关要求。所述夹具使用简单，加工成本较低、加工流程短，能极大程度提高测试效率，降低测试设备成本。

技术领域

本实用新型涉及试验设备领域，具体而言，涉及夹具和试验装置。

背景技术

电源滤波器在出厂前需要进行空载测试和带载测试，以保证优质的产品提供给客户。现有的对电源滤波器，尤其是对JLD28V3AB－YK2520型EMI 电源滤波器进行空载测试时，直接在夹具的输入输出端口连接标网或者失网，在需要进行带载测试时，若夹具未设计保护电路，直接在夹具的输入输出端连接电源时，会对测试设备，标网或者失网造成损坏，使用本夹具进行带载测试时，不会损坏所述试验装置的相关设备。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供夹具和试验装置，以改善上述问题。

本实用新型的实施例是这样实现的：

第一方面，本实用新型实施例提供的一种夹具，所述夹具包括电性能连接座子和测试电路，所述测试电路设置在所述电性能连接座子上；所述测试电路包括终端负载、存储支路和可编辑逻辑控制支路，所述终端负载和所述可编辑逻辑控制支路均与所述存储支路连接；所述终端负载包括第一负载、第二负载和第三负载，所述存储支路包括第一单层存储单元、第二单层存储单元和电阻，所述第一单层存储单元和所述电阻串联后与所述第二单层存储单元并联成所述存储支路，所述存储支路的第一端点与所述第一负载串联后接地，所述存储支路的第二端点与所述第二负载和所述可编辑逻辑控制支路均连接，所述第二负载的另一端接地，所述可编辑逻辑控制支路的另一端与所述第三负载连接，所述第三负载的另一端接地。

优选地，所述第一单层存储单元包括第一电感和第一电容，所述第二单层存储单元包括第二电感和第二电容，所述第一电感和所述第一电容串联后与所述电阻串联，所述第二电感和所述第二电容串联。

优选地，所述可编辑逻辑控制支路包括第三电感和第三电容，所述第三电感与所述第三电容并联。

优选地，所述终端负载的阻抗为50Ohm，所述电阻的阻抗为0.1Ohm，所述第一电感的取值为1.0nH，所述第一电容的取值为1.0uF，所述第二电感的取值为3nH，所述第二电容的取值为22uF。

第二方面，本实用新型实施例提供的一种试验装置，包括夹具和测试外设，所述测试外设包括电源、负载和测试网络，所述夹具包括电性能连接座子和测试电路，所述测试电路设置在所述电性能连接座子上，所述电源、所述负载和所述测试网络均与所述测试电路连接；所述测试电路包括终端负载、存储支路和可编辑逻辑控制支路，所述终端负载和所述可编辑逻辑控制支路均与所述存储支路连接；所述终端负载包括第一负载、第二负载和第三负载，所述存储支路包括第一单层存储单元、第二单层存储单元和电阻，所述第一单层存储单元和所述电阻串联后与所述第二单层存储单元并联成所述存储支路，所述存储支路的第一端点与所述第一负载串联后接地，所述存储支路的第二端点与所述第二负载和所述可编辑逻辑控制支路均连接，所述第二负载的另一端接地，所述可编辑逻辑控制支路的另一端与所述第三负载连接，所述第三负载的另一端接地。

优选地，所述测试网络包括标网或失网中的至少一种。