[实用新型]一种集成电路芯片可靠性检测夹具

权利要求书

1.一种集成电路芯片可靠性检测夹具，其特征在于，该夹具包括检测底座，在所述检测底座上设有测试凸台、芯片引脚槽，所述芯片引脚槽分布在测试凸台两侧，在所述芯片引脚槽内设有等距的间隔，在所述间隔内设有弹性绝缘体，所述弹性绝缘体分布在间隔四周，并且相互接触靠紧；

所述集成电路芯片的引脚插入到所述芯片引脚槽内，在所述芯片引脚槽朝向芯片引脚的一侧设置有弹性探针，所述弹性探针连接在检测压板上；所述检测压板分为两块，分别对准集成电路芯片的两侧引脚，且贯穿芯片引脚槽，两块检测板中间通过推进结构相互连接，所述推进结构将所述弹性探针推进到伸出弹性绝缘体外接触到引脚位置。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片可靠性检测夹具，其特征在于，所述推进结构设置有至少一组，每组分为两块连接片每块连接片上设有长孔，在所述长孔内连接设有螺纹的连杆，所述连接片在连杆转动时沿连杆左右移动，推进检测压板向集成电路芯片一侧移动。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片可靠性检测夹具，其特征在于，所述芯片引脚槽呈长条形，所述弹性探针间隔为所述集成电路芯片引脚的间隔。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片可靠性检测夹具，其特征在于，所述推进结构设有3组，在所述芯片引脚槽的内侧等距分布。

5.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片可靠性检测夹具，其特征在于，所述连杆的一端设有旋转头。