[实用新型]一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置

权利要求书

1.一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，其特征在于：包括位于探测器(1)下方的样品盘架(3)，样品盘架(3)的底面能够水平抽拉，样品盘(2)水平设置于样品盘架(3)的底面上，在样品盘架(3)底面的下方设有压紧装置，在样品盘架(3)两侧边框上设有水平定位装置。

2.如权利要求1所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，其特征在于：所述的压紧装置包括倾斜设置的压板(4)和与压板端部连接的升降轴(10)，所述升降轴(10)的上端连接有弹簧，弹簧的顶端设有钢珠，当样品盘处于测量位置时，通过样品盘架(3)的底面下压所述压紧装置的压板(4)一侧，使压板(4)另一侧端部的升降轴(10)向上运动顶起所述钢珠，从而压紧样品盘(2)。

3.如权利要求2所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，其特征在于：所述压板(4)能以圆柱销(8)为中心转动，在压板(4)设升降轴(10)的一端下方连接复位弹簧(9)。

4.如权利要求1-3中任意一项所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，其特征在于：所述的水平定位装置包括位于样品盘架(3)两侧边框上的凸缘(6)，在所述凸缘(6)上设有定位顶珠(7)，所述定位顶珠(7)顶住样品盘(2)的边缘。