[实用新型]一种测定表面电荷的荧光成像装置

权利要求书

1.一种测定表面电荷的荧光成像装置，用于可视化测定表面粗糙且不规则的颗粒或膜状物的表面电荷分布状态及其电荷密度，其特征在于，所述的荧光成像装置，包括一样品池和一荧光显微镜，所述的样品池制成三格结构，分别为A格、B格和C格，其中，A格用于放置缓冲液，并通过一连接管与微型泵连接；B格用于放置缓冲液和带电的荧光纳米粒子；C格用于放置废液，并通过另一连接管与微型泵连接；所述的微型泵与电脑连接，并由电脑控制其工作状态。

2.根据权利要求1所述的一种测定表面电荷的荧光成像装置，其特征在于，所述的样品池由玻璃或有机玻璃材料制成。

3.根据权利要求1所述的一种测定表面电荷的荧光成像装置，其特征在于，所述的缓冲液是使待测物能保持其自然状态的同时使荧光纳米粒子具有稳定的分散性的溶液。

4.根据权利要求1所述的一种测定表面电荷的荧光成像装置，其特征在于，所述的带电的荧光纳米粒子为经过表面修饰处理，使之带有与待测物表面电荷异号电荷的可发荧光的纳米粒子，所述的可发荧光的纳米粒子包括纳米半导体微晶体、稀土掺杂上转换纳米粒子、贵金属纳米粒子、直接将荧光物质和染料制成的有机纳米粒子和/或直接将荧光物质和染料制成的无机纳米粒子。

5.根据权利要求1所述的一种测定表面电荷的荧光成像装置，其特征在于，所述的表面粗糙且不规则的颗粒或膜状物包括有机物、无机物和/或生物细胞。

6.根据权利要求1所述的一种测定表面电荷的荧光成像装置，其特征在于，将待测物置入样品池的B格内，通过静电相吸作用，带异号电荷荧光纳米粒子与待测物表面的所有电荷相结合，从而粘附在待测物表面，故通过荧光显微镜展示的荧光纳米粒子的分布反映待测物的电荷分布状态，其荧光强度的大小反映该点荧光纳米粒子的密度亦即表面电荷密度。

7.根据权利要求1所述的一种测定表面电荷的荧光成像装置，其特征在于，所述的微型泵由电脑自动控制，在带电的荧光纳米粒子与待测物表面的所有电荷相结合后，能自动将B格的混有荧光纳米粒子的缓冲液泵至C格，并将A格的新鲜缓冲液泵入B格，以清洗掉没有结合到待测物表面电荷的荧光纳米粒子，连续自动进行若干次清洗。

8.根据权利要求1所述的一种测定表面电荷的荧光成像装置，其特征在于，所述的荧光显微镜为用于二维检测的普通倒置荧光显微镜或用于三维检测的倒置荧光扫描显微镜或倒置荧光共聚焦显微镜。

9.根据权利要求1所述的一种测定表面电荷的荧光成像装置，其特征在于，所述的荧光成像装置通过用荧光纳米粒子标记的待测物的荧光强度确定待测物表面每一点的电荷密度。