[实用新型]高电流转接针

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种探针，具体地涉及一种稳定地传送测试信号的高电流转接针。

背景技术

测试探针用于电连接测试器和半导体装置，测试器通过施加预定测试信号测试诸如半导体芯片或晶片的半导体装置的质量。探针是设置在其中以将预定测试信号施加到半导体装置的焊球或焊盘的探针。探针的两端分别连接到半导体装置和测试器的载板以电连接半导体装置和测试器。探针将测试信号传送到半导体装置，之后传送测试信号。现有技术中，应用于半导体高电流转接针在测试信号稳定传送方面、结构复杂程度方面、传导性能方面、测试成本方面有待提高。

实用新型内容

本实用新型为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种高电流转接针，其中，具体技术方案为：

包括针管，所述针管上设置探针，所述针管上连接针杆，所述针杆上设置弹簧，所述针杆连接底座一，所述底座一上设置套管，所述套管的一端设置底座二，所述底座二上设置针管二，所述针管二上设置电流针。

上述的高电流转接针，其中：针管为黄铜合金，采用镀镍、镀金层的外面覆盖，镍层大于 60uin，镀金大于 4uin。

上述的高电流转接针，其中：所述套管与底座一通过螺纹的方式连接。

上述的高电流转接针，其中：所述针管二和底座二通过螺纹的方式连接。

上述的高电流转接针，其中：所述探针为数个，所述探针为六面锥型。

本实用新型相对于现有技术具有如下有益效果：通过对结构的改进，获得电流电压值，简化检测电路，且提高了过电流的能力，适应锂电池检测工作的需要。

附图说明

图1为高电流转接针的结构示意图。

图中：

1探针 2针管 3弹簧 4针杆 5底座一 6套管 7底座二 8针管二 9电流针。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的描述。

一种高电流转接针，包括针管，所述针管上设置探针，所述针管上连接针杆，所述针杆上设置弹簧，所述针杆连接底座一，所述底座一上设置套管，所述套管的一端设置底座二，所述底座二上设置针管二，所述针管二上设置电流针。

针管为黄铜合金，采用镀镍、镀金层的外面覆盖，镍层大于 60uin，镀金大于 4uin；所述套管与底座一通过螺纹的方式连接；所述针管二和底座二通过螺纹的方式连接；所述探针为数个，所述探针为六面锥型。

虽然本实用新型已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本实用新型，任何本领域技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本实用新型的保护范围当以权利要求书所界定的为准。