[实用新型]一种发光器件测试系统

权利要求书

1.一种发光器件测试系统，其特征在于，包括：

机座(1)；

水平滑移连接于所述机座(1)上、用于承载被测发光器件的载片台(2)；

设于所述机座(1)上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的光参数测试装置(3)；以及，

用于对所述光参数测试装置(3)进行保护的导电保护结构(4)。

2.根据权利要求1所述的一种发光器件测试系统，其特征在于，所述载片台(2)包括：

用于承载发光器件的承载台(21)；

设于所述承载台(21)上、用于驱动所述承载台(21)旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整位置的旋转机构(22)；

设于所述承载台(21)下、用于驱动所述承载台(21)纵向移动以靠近或远离测试位置的第一传输机构；以及，

设于第一传输机构下、用于驱动第一传输机构及承载台(21)横向移动以靠近或远离测试位置的第二传输机构。

3.根据权利要求2所述的一种发光器件测试系统，其特征在于，所述承载台(21)设有安装座(29)，所述旋转机构(22)包括：

设于所述安装座(29)上的电机(221)；以及，

设于所述安装座(29)上、受所述电机(221)驱动以带动所述承载台(21)旋转的传动件(222)；

所述第一传输机构包括：

滑移座(23)；

若干设于所述滑移座(23)上、供所述承载台(21)滑移的第一导轨(24)；以及，

驱动所述承载台(21)在所述第一导轨(24)上滑移的第一驱动件(25)；

所述第二传输机构包括：

固定座(26)，所述固定座(26)上设有供所述光参数测试装置(3)容置的让位缺口(6)；

若干设于所述固定座(26)上、供所述滑移座(23)滑移的第二导轨(27)；以及，

驱动所述滑移座(23)在所述第二导轨(27)上滑移的第二驱动件(28)。

4.根据权利要求3所述的一种发光器件测试系统，其特征在于，所述第一驱动件(25)及第二驱动件(28)均为丝杠。

5.根据权利要求1所述的一种发光器件测试系统，其特征在于，所述光参数测试装置(3)包括：

设于机座(1)上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的收光组件(31)；以及，

用于驱动所述收光组件(31)靠近所述载片台(2)中被测发光器件的位置以进行光参数收集或远离所述载片台(2)以便所述载片台(2)移动至退片位置以取下被测元器件的驱动机构(32)。

6.根据权利要求5所述的一种发光器件测试系统，其特征在于，所述收光组件(31)包括：

用于与被测发光器件的发光面接触以收集被测发光器件的光参数的积分球(311)；

承载所述积分球(311)的积分球安装座(312)；

用于夹持所述积分球(311)的积分球夹具(313)；以及，

与所述积分球(311)连接、用于接受并分析所述积分球(311)所收集的光参数的光学测试件；

所述驱动机构(32)包括：

穿设于所述机座(1)的固定板(321)；

滑移连接于所述固定板(321)上、与所述安装座(29)固定的移动座(322)；

设于所述固定板(321)一侧的丝杠(323)，所述丝杠(323)的螺母座连接于所述移动座(322)；以及，用于驱动所述丝杠(323)活动的驱动电机(324)。

7.根据权利要求6所述的一种发光器件测试系统，其特征在于，所述固定板(321)上设有滑轨(325)，所述移动座(322)上设有在所述滑轨(325)上滑移的滑块(326)。

8.根据权利要求5所述的一种发光器件测试系统，其特征在于，所述导电保护结构(4)包括：

控制中心；

设于所述载片台(2)上、与所述控制中心连接的第一导电件(41)；以及，

设于所述收光组件(31)上、与所述控制中心连接的、用于与所述第一导电件(41)导通的第二导电件(42)，所述第一导电件(41)及所述第二导电件(42)接触导通，以触发所述控制中心控制所述移动组件停止移动以防止所述收光组件(31)撞伤。