[实用新型]微波射频弹性自锁转接测试工装

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种微波射频弹性自锁快速转接测试工装。

背景技术

目前，行业内使用射频N型连接器的微波通信器件在线批量测试指标时均采用传统的转接测试工装，该工装普遍采用带螺套的分体式结构。如图3所示，具体结构是，内导体11依靠绝缘介质10径向固定于第一外导体8，第一外导体8与第二外导体12螺纹连接，将上述部件轴向固定，利用卡环9将螺母6安装到第一外导体8上，加密封圈7，形成传统分体式的N-50JK转接测试工装。

这种转接测试工装存在有四大弊端：

一是此种转接测试工装工作时，与被测器件的对接同心度无法保证，如图4所示，被测NK端为锥状结构，测试转接测试工装NJ端为柱状结构，在相互配接过程中，单边存在0.2毫米以上到配合间隙，在完成配接后，这种间隙也没能完全消除，极大地影响器件电指标与交调值的测试准确性。

二是此种转接测试工装NJ端为刚性结构，工作时，只有NJ端的圆环端面与NK被测件接触，由于对接同心度偏差、端面不平整度等综合影响，实际上存在非面接触，即线性接触的可能，这种接触带来测试指标的不稳定性。

三是该转接测试工装的外导体采用两段分体结构，非一体化结构，理论上存在的两导体间的接触不良，会影响到指标测试的精度。

四是该转接测试工装带紧固螺母，不能实现快速插拔测试，工作效率不高，不适用于在线大批量自动化测试。

实用新型内容

本实用新型为克服现有技术的缺陷，提供一种微波射频弹性自锁转接测试工装，以期能实现快速插拔、结构简洁、连接紧密可靠、实现稳定的电气性能的射频转接测试目的，从而有效提升N型射频器件指标测试的准确性与效率，满足大批量制造时自动化测试要求。

本实用新型解决技术问题采用如下技术方案：

本实用新型一种微波射频弹性自锁转接测试工装的结构特点包括：自内而外依次同轴设置的内导体、绝缘介质、内环和外导体；

所述内导体通过所述绝缘介质固定于所述外导体中，所述内环与所述外导体之间为过盈配合，并用于轴向固定所述内导体与所述绝缘介质；在所述外导体上设置有工装夹持槽，用于连接滑动基座；

设置所述外导体的测试端为锥状结构，且锥状结构上均匀开设有轴向槽，形成开槽涨口的弹爪结构；在所述锥状结构的顶端设置有凸缘结构；在所述凸缘结构和弹爪结构的作用下使得所述锥状结构与被测件内壁面之间形成全面接触的无间隙配接结构，以实现对被测件的弹性自锁转接测试。

本实用新型所述的微波射频弹性自锁转接测试工装的特点也在于，

所述轴向槽的宽度小于0.05毫米。

所述外导体采用铍铜材料。

与已有技术相比，本实用新型的有益效果体现在：

1、本实用新型的弹性自锁转接测试工装，其NJ端工作部分不使用公知的N型射频连接器标准界面尺寸，而是依据被测器件NK连接器的内部结构，优化了单边间隙，仿形出非标准化的NJ锥状结构，通过在工装外导体的测试接触端设置为凸缘加开槽涨口结构，且外壳使用弹性极好的调质铍铜，工作时，即有NJ端的圆环端面与NK被测件接触，又有外凸缘部位与被测件内壁面的接触，保障了双面接触的高可靠性；由于弹爪的外涨压力，无外力时不分离，能持续提供导体间的径向与轴向结合力，使转接工装与被测件更紧密结合，从而实现了弹性自锁；从而有效提升N型射频器件指标测试的准确性。

2、本实用新型将单边间隙控制在0.05毫米以内，限定了转接工装与被测器件配接过程中的同心度偏差；从而也提高了测试的准确性。

3、本实用新型的外导体为整体结构，不使用常规设置的两段分体，避免了普通工装中分体结构对非线性接触的影响，从而保证了低交调性能与使用耐久性，据初步统计，本工装在线使用测次寿命达5万次以上，是普通工装的十倍以上。

4、本实用新型带仿形结构与弹性自锁功能的射频测试工装为快速插拔型，无常规紧固螺母，无需拧紧，设置工装夹持槽，方便与滑动基座之间的夹持与快速更换，有效提升了各类N型射频器件的测试效率，满足了大批量自动化测试的要求。

附图说明

图1为本实用新型测试工装的结构示意图；

图2为本实用新型测试工装的外形图；

图3为现有射频测试转接器N-50JK的结构示意图；

图4为现有测试转接器的工作示意图，虚线部分为被测试器件接口；

图5为本实用新型测试工装的工作示意图，虚线部分为被测试器件接口。