[实用新型]一种角度补偿式激光外差干涉位移测量装置有效
申请号: | 201720823469.4 | 申请日: | 2017-07-07 |
公开(公告)号: | CN207180607U | 公开(公告)日: | 2018-04-03 |
发明(设计)人: | 张恩政;陈本永 | 申请(专利权)人: | 浙江理工大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/26;G01B9/02 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司33200 | 代理人: | 林超 |
地址: | 310018 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 角度 补偿 激光 外差 干涉 位移 测量 装置 | ||
1.一种角度补偿式激光外差干涉位移测量装置,其特征在于:包括激光外差干涉位移测量光路部分和角锥棱镜(13),激光外差干涉位移测量光路部分包括双频激光器(1)、第一分光镜(2)、第一偏振片(3)、第一光电探测器(4)、第一偏振分光镜(5)、第一四分之一波片(6)、第一平面镜(7)、第二偏振片(8)、第二光电探测器(9)、法拉第旋光器(10)、第二偏振分光镜(11)、第二四分之一波片(12)和第二平面镜(14);
双频激光器(1)输出的正交线偏振光,正交线偏振光入射到第一分光镜(2)发生反射和透射分成两束光,第一分光镜(2)的反射光经第一偏振片(3)产生拍频干涉后被第一光电探测器(4)接收;
第一分光镜(2)的透射光入射到第一偏振分光镜(5)经反射和透射分成两束光:
第一偏振分光镜(5)的反射光作为第一测量光束,第一测量光束经第一四分之一波片(6)后入射到第一平面镜(7)反射,第一平面镜(7)反射光再经第一四分之一波片(6)后返回到第一偏振分光镜(5)发生透射,第一偏振分光镜(5)透射光经第二偏振片(8)透射后入射到第二光电探测器(9);
第一偏振分光镜(5)的透射光作为第二测量光束,第二测量光束经法拉第旋光器(10)入射到第二偏振分光镜(11)发生透射,经第二四分之一波片(12)后入射到角锥棱镜(13),被角锥棱镜(13)正常反射后再经第二四分之一波片(12)回到第二偏振分光镜(11),再经第二偏振分光镜(11)反射到第二平面镜(14),经第二平面镜(14)反射后形成逆反光束,逆反光束按原光路逆反回到第一偏振分光镜(5)处,逆反光束经第一偏振分光镜(5)反射后再经第二偏振片(8)透射,然后经第二偏振片(8)入射到第二光电探测器(9);
逆反光束和第一测量光束在第二偏振片(8)处透射光产生拍频干涉,被第二光电探测器(9)接收。
2.根据权利要求1所述的一种角度补偿式激光外差干涉位移测量装置,其特征在于:所述的逆反光束按原光路逆反回到第一偏振分光镜(5)处,具体是:逆反光束从第二平面镜(14)反射出后,依次经第二偏振分光镜(11)反射、第二四分之一波片(12)透射、角锥棱镜(13)反射、第二四分之一波片(12)透射、第二偏振分光镜(11)透射后,再经法拉第旋光器(10)入射到第一偏振分光镜(5)。
3.根据权利要求1所述的一种角度补偿式激光外差干涉位移测量装置,其特征在于:所述的角锥棱镜(13)与被测对象(17)固定在一起,并随着被测对象(17)一起运动。
4.根据权利要求1所述的一种角度补偿式激光外差干涉位移测量装置,其特征在于:还包括激光光斑检测转角测量光路部分,激光光斑检测转角测量光路部分包括角锥棱镜(13)上的半透半反膜、汇聚透镜(15)和位置敏感探测器(16),有第二测量光束入射的角锥棱镜(13)一侧入射面上镀有半透半反膜,使得第二测量光束入射到角锥棱镜(13)入射面上同时发生反射和透射,角锥棱镜(13)入射面的透射光进入角锥棱镜(13)内部进行正常反射,角锥棱镜(13)入射面的反射光经第二偏振分光镜(11)发生反射,第二偏振分光镜(11)反射光经汇聚透镜(15)入射到位置敏感探测器(16)。
5.根据权利要求1所述的一种角度补偿式激光外差干涉位移测量装置,其特征在于:所述第一四分之一波片(6)和第二四分之一波片(12)的快轴方向均与线偏振光的偏振方向呈45°布置。
6.根据权利要求1所述的一种角度补偿式激光外差干涉位移测量装置,其特征在于:所述法拉第旋光器(10)的旋光角度为45°,所述第二偏振分光镜(11)绕光轴沿着第二测量光束正向传播方向角度看去顺时针旋转45°放置。
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