[实用新型]一种用于电子元器件测试系统的柜体有效

专利信息
申请号: 201720830330.2 申请日: 2017-07-10
公开(公告)号: CN206848398U 公开(公告)日: 2018-01-05
发明(设计)人: 张婧;王少波;陶震林;甘红胜;梁辉;李广超;赵志嵩 申请(专利权)人: 上海出入境检验检疫局机电产品检测技术中心
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;H05K7/02;G01R19/00
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司31236 代理人: 胡晶
地址: 200135 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 电子元器件 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种用于电子元器件测试系统的柜体,所述柜体包括上中下三部分,所述柜体的上部分的前面板上设置有两排方孔,每排五个,用来安装电压表及电流表,所述方孔的下方设置有一触控屏,所述触控屏下方设置有可编程电源;所述可编程电源下有五个开关装置,其中一个主开关,四个为次级控制开关;柜体的中部用来放置待测器件;柜体下部分为一容置空间。

2.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件测试系统的柜体,其特征在于,所述中间部分为一个可滑动拉出的抽屉,所述抽屉上安装有三个固定板,在每个所述固定板上设有紧固带,用来固定待测元器件,所述抽屉里还装有接线端子排,且抽屉中留有接线用的开孔。

3.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件测试系统的柜体,其特征在于,所述柜体的下部分为一可开关门的容置空间,所述容置空间内,集中放置各类模块的接线柱。

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