[实用新型]一体测量检具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测量检具，尤其涉及一种一体测量检具。

背景技术

众所周知，产品加工后需要进行检测，以判断产品是否符合加工需求。但对于某些特殊产品，有定位孔又有斜面同样需要检测，由于产品为不规则形状，定位困难，无法使用传统方法进行精准测量，并且测量效率低。

发明内容

为了克服上述缺陷，本实用新型提供了一种用于具有斜面的特殊产品的一体测量检具。

本实用新型为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种一体测量检具，包括水平设置的底座、垂直固定于所述底座的上侧面上的支撑板以及标准检测块，所述标准检测块的下端面为与待检测产品的标准斜面配合的斜面；所述支撑板下端的内侧面上设有用于定位待检测产品的下定位装置，所述支撑板上端的内侧面上设有用于定位所述标准检测块的上定位装置。

作为本实用新型的进一步改进，所述标准检测块为一个端面呈斜面的长方体结构。

作为本实用新型的进一步改进，所述上定位装置包括竖直固定于所述支撑板内侧面上的左定位块和右定位块，所述左定位块为长方体结构，所述右定位块为截面呈L型的多棱体结构，所述左定位块和右定位块之间形成用于供所述标准检测块置入的定位空间。

作为本实用新型的进一步改进，所述下定位装置包括定位孔和定位柱。

作为本实用新型的进一步改进，所述底座和支撑板为截面呈L型的一体结构。

本实用新型的有益效果是：该一体测量检具通过下定位装置将产品定位，再通过标准检测块插入上定位装置内，测量标准检测块的高度即可判断待检测产品斜面加工是否符合要求，同时也能判断产品定位孔是否偏位，不仅结构简单，而且操作方便、快捷，大大提高了检测效率，同时检测精度高，保证了产品加工质量。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型使用状态示意图。

结合附图，作以下说明：

1——底座； 2——支撑板；

3——标准检测块； 4——下定位装置；

5——上定位装置； 41——定位孔；

42——定位柱；51——左定位块；

52——右定位块；6——产品。

具体实施方式

以下结合附图，对本实用新型的一个较佳实施例作详细说明。但本实用新型的保护范围不限于下述实施例，即但凡以本实用新型申请专利范围及说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本实用新型专利涵盖范围之内。

参阅图1-2，为本实用新型所述的一种一体测量检具，包括水平设置的底座1、垂直固定于所述底座的上侧面上的支撑板2以及标准检测块3，所述标准检测块的下端面为与待检测产品的标准斜面配合的斜面；所述支撑板下端的内侧面上设有用于定位待检测产品的下定位装置4，所述支撑板上端的内侧面上设有用于定位所述标准检测块的上定位装置5。

其中，所述标准检测块为一个端面呈斜面的长方体结构；所述上定位装置包括竖直固定于所述支撑板内侧面上的左定位块51和右定位块52，所述左定位块为长方体结构，所述右定位块为截面呈L型的多棱体结构，所述左定位块和右定位块之间形成用于供所述标准检测块置入的定位空间5；。所述下定位装置包括定位孔41和定位柱42；所述底座和支撑板为截面呈L型的一体结构。

产品6加工后检测时，先将待检测产品通过下定位装置固定在支撑板上，即通过定位孔和定位柱将产品固定，然后将标准检测块从上至下插入上定位装置中，即标准检测块插入左、右定位块形成的定位空间内，标准检测块下端的斜面和待检测产品的斜面契合，然后用高度规检测标准检测块的最高点，如果检测数据即可判断产品的斜面加工是否符合精度要求。如果标准检测块下端的斜面不能与待检测产品的斜面契合，说明产品定位孔偏位。

由此可见，该一体测量检具通过下定位装置将产品定位，再通过标准检测块插入上定位装置内，测量标准检测块的高度即可判断待检测产品斜面加工是否符合要求，同时也能判断产品定位孔是否偏位，不仅结构简单，而且操作方便、快捷，大大提高了检测效率，同时检测精度高，保证了产品加工质量。