[实用新型]磁敏相控阵探测组件

说明书

技术领域

本实用新型涉及无损检测技术领域，具体为磁敏相控阵探测组件。

背景技术

磁敏探测组件是已知的并用在许多不同应用中。磁敏探测组件用来例如检查测试物体并且探测或鉴别测试物体的特性，例如，腐蚀、空洞、包含物、长度、厚度等。通常使用单个或单组探头，为了精确地探测这些特征在测试物体内的位置，可以使用单探头多次多角度测量或者多个探头或联合其他的无损检测方法。多次测试运行耗费时间并导致生产率降低。不仅如此，而且，联合其他的无损检测或同时使用多个探头，使得检测的难度增加、成本上升、并且耗费时间。

火力发电厂运行过程中，在过热器和再热器内经常产生大量的氧化皮，随着厚度的增加和机组负荷的变化，内壁的氧化皮会从管道内壁脱落，一部分随蒸汽流出，一部分堆积在过热器和再热器的下弯头；当堆积量达到一定程度时，使管道内蒸汽减小，管道壁温升高，加剧了管道内壁氧化皮的生成；当超温到一定程度时，有可能导致爆管事故发生。为了减少氧化皮剥落引起的爆管事故，常常在停机时采用无损检测的方法，检测过热器和再热器下弯头沉积的氧化皮的量。

通常采用的无损检测的方法有：射线成像法检测结果直观，而且仪器价格昂贵，工作效率低，射线辐射对人体有损害，使得射线检测受到一定限制；割管内窥镜法检测结果准确，但工作量大、检测周期长、人力物力耗费大；超声波、磁场检测方法检测迅速、工作量小。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题，本实用新型提供一种磁敏相控阵探测组件，能够发射多个不同角度下的磁场来探测测试物体内的特征，以更精确的方式移动磁场，获得准确的待测试物体的特性。

本实用新型是通过以下技术方案来实现：

磁敏相控阵探测组件，包括分别定位在测试物体外围表面附近的磁敏相控阵探头和电磁相控阵激励源；

所述的电磁相控阵激励源包括若干电磁元件，电磁相控阵激励源通过电磁元件生成激励磁场并施加到测试物体中进行磁化；激励磁场通过电磁元件的组合变化在测试物体中移动；

所述磁敏相控阵探头包括若干磁敏元件，磁敏相控阵探头通过磁敏元件探测测试物体内的磁化磁场。

优选的，所述的电磁相控阵激励源中的若干电磁元件设置为平面阵或共形阵或线性地分段。

优选的，所述磁敏相控阵探头的若干磁敏元件设置为平面阵或共形阵或线性地分段。

优选的，所述磁敏元件采用磁敏电阻、霍尔元件、磁敏二极管或感应线圈。

优选的，磁敏相控阵探头和电磁相控阵激励源以测试物体为轴呈相向分开独立布置，或者面对测试物体呈电磁元件和磁敏元件的交错同向一体布置。

优选的，所述磁敏相控阵探头在激励磁场移动时固定定位在测试物体的外围表面附近。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益的技术效果：

本实用新型通过电磁相控阵激励源中的若干电磁元件，实现产生的激励磁场施加在测试物体上，并且通过对电磁元件的组合控制使得激励磁场在测试物体中移动，从而能够通过磁敏相控阵探头实现对磁化磁场的探测，从而得到测试物体的特征；检测精度高，工作效率高，操作简便，使用成本低。

进一步的，呈规则布置的电磁元件能够更加方便和快捷的通过单个磁场的叠加后得到激励磁场，同时在激励磁场移动时，能够精确的保证激励磁场的稳定。

进一步的，通过相对或同向的布置，能够满足各种情况下的使用要求，使用方便，使用范围广。

附图说明

图1是本实用新型所述的磁敏相控阵探测组件轴对称相向布置的示意图。

图2是本实用新型所述的磁敏相控阵探测组件交错同向布置的示意图。

图3是本实用新型所述的磁敏相控阵探测组件轴对称相向布置的使用状态图。

图4是本实用新型所述的磁敏相控阵探测组件交错同向布置的使用状态图。

图5是本实用新型所述的磁敏相控阵探测组件使用时测试方法流程图。

图中：1-磁敏相控阵探测组件、2-磁敏相控阵探头、3-电磁相控阵激励源、4-磁敏元件、5-电磁元件、6-测试物体。

具体实施方式

下面结合具体的实施例对本实用新型做进一步的详细说明，所述是对本实用新型的解释而不是限定。