[实用新型]磁感应厚度检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及厚度传感器技术领域，尤其涉及一种磁感应厚度检测装置。

背景技术

在工业生产和日常生活中通常要对工件和物品的表面粗糙度和厚度进行测量，现有的厚度测量方式有超声波脉冲反射、光干涉以及激光位移测厚等，不同的测量方法对应不同的技术特点以及应用范围。超声波脉冲反射以及激光位移法的精度较低，而光干涉法仅适用于透明的薄膜，且其体积较大且对环境要求高，应用起来并不方便。我们不难看出现有的厚度测量方法并不能够满足工业生产的高精度和使用便利的要求。

实用新型内容

本实用新型为解决现有的厚度传感器测量精度低、使用不方便的技术问题，提供了一种磁感应厚度检测装置。

本实用新型提供了一种磁感应厚度检测装置，包括：

磁体，一侧面设有凹槽；

测量架，设置于磁体设有凹槽的一侧且通过固定块连接；

磁性传感器芯片，装设于测量架朝向磁体的一侧且与所述凹槽正对；及

移动组件，用于驱动所述磁感应厚度检测装置相对于测量材料平行移动；

所述磁体的充磁方向为磁体指向磁性传感器芯片方向，所述磁体与测量架之间的空间形成背景磁场；

所述测量架设有用于容置所述磁性传感器芯片的容置槽。

进一步地，所述测量架朝向磁体一面相邻左右两侧面设有导槽，所述固定块与测量架连接的一端设有与所述导槽匹配使用的滑动块。

进一步地，所述移动组件包括两条平行设置的直线导轨、活动连接于直线导轨且用于固定磁体的固定架及用于驱动固定架沿直线导轨移动的驱动件。

进一步地，所述磁感应厚度检测装置还包括设置于测量架与测量材料接触一端的接触件。

进一步地，所述接触件呈针形、球体或滑轮形状。

进一步地，所述测量架与测量材料接触一端呈针形、球体或滑轮形状。

进一步地，所述磁性传感器芯片的敏感元件为各向异性磁电阻元件、巨磁电阻元件或磁性隧道结元件。

进一步地，所述凹槽横截面形状为曲线形、三角形、矩形或梯形。

进一步地，所述驱动件采用电机或气缸。

本实用新型的有益效果是：本实用新型通过测量架在测量材料表面移动，由于测量材料表面的高低不平，从而带动磁性传感器芯片上下移动，使得背景磁场沿磁性传感器芯片的敏感轴方向上的分量大小也随之变化，磁性传感器芯片通过测量变化的场强输出电信号，我们可以用校准表分析其输出信号的波形从而得到待测物的表面粗糙度；同时，通过测量架的上下移动，从而带动磁性传感器芯片发生位移，根据通过磁性传感器芯片的磁通量变化从而计算出测量材料的厚度；此外，通过移动组件的作用，能平稳得驱动磁体和测量架沿测量材料表面移动；本实用新型实施例在具有高精度、高灵敏度和体积小的优势的同时，具有易装配、使用便利、高良品率且抗震动干扰的优势；另一方面，将磁性传感器芯片装设于测量架的容置槽中，可以有效的保护磁性传感器芯片，避免受到磨损，有效延长装置的使用寿命。

附图说明

图1为本实用新型磁感应厚度检测装置一实施例的主视图。

图2为本实用新型磁感应厚度检测装置一实施例的俯视图。

图3为本实用新型磁感应厚度检测装置一个实施例的测量架容置磁性传感器芯片后的立体图。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。