[实用新型]一种带相位光栅和背面金反射层的超导单光子探测器有效
申请号: | 201720864769.7 | 申请日: | 2017-07-17 |
公开(公告)号: | CN207068893U | 公开(公告)日: | 2018-03-02 |
发明(设计)人: | 顾敏;刘冬梅 | 申请(专利权)人: | 华南师范大学 |
主分类号: | H01L31/09 | 分类号: | H01L31/09;H01L31/0216;H01L31/0232;G01J11/00;B82Y30/00 |
代理公司: | 广州科粤专利商标代理有限公司44001 | 代理人: | 黄培智 |
地址: | 510631 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 相位 光栅 背面 反射层 超导 光子 探测器 | ||
1.一种带相位光栅和背面金反射层的超导单光子探测器,其特征在于,包括硅基衬底(1)、金反射层(2)、中间层(3)、电极(4)、氮化铌纳米线(5)、相位光栅(6)和栅台(7),所述硅基衬底(1)上设有金反射层(2),所述金反射层(2)上设有中间层(3),所述中间层(3)上设有氮化铌纳米线(5),形成纳米线区,所述氮化铌纳米线(5)的两端设有电极(4),所述氮化铌纳米线(5)上设有相位光栅(6),所述相位光栅(6)上设有栅台(7);所述金反射层(2)的厚度大于100nm。
2.根据权利要求1所述的带相位光栅和背面金反射层的超导单光子探测器,其特征在于,所述栅台(7)的高H为其中,λ为入射光波长,n1为相位光栅材料折射率,n2为相位光栅外介质的折射率,n为正整数;所述相位光栅(6)的厚度D满足其中λ为入射光波长,n1为金反射层材料折射率,n为正整数;所述中间层(3)的厚度L满足其中,λ为入射光波长,n1为金反射层材料折射率,n为正整数。
3.根据权利要求1或2所述的带相位光栅和背面金反射层的超导单光子探测器,其特征在于,所述中间层(3)和相位光栅(6)由二氧化硅材料制成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的