[实用新型]一种平面同轴条纹光源检测机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及机器视觉检测光源技术领域，具体涉及一种平面同轴条纹光源检测机构。

背景技术

随着生产产品的质量等级提高，进一步的对产品表面的要求也相对严格。产品表面出现的缺陷足以影响到产品的质量。现有产品表面缺陷的检测技术对于微小的凸点、凹陷、水波纹等轻微缺陷难以检测，因此采用光源检测，而常规的光源检测技术无法拍出对比度高的效果，检测稳定性低，无法做到大面积、大视野的检测。

因此亟需一种能够解决上述问题的光源检测机构。

发明内容

本实用新型的目的在于解决现有技术中的不足之处而提供一种平面同轴条纹光源检测机构，本实用新型利用侧面发光灯和导光板相结合，通过侧面导光的方式，配合摄像机可透过产品成像拍照，利用倒影把导光部的长条形在成像中呈现出来，如遇到有凸点，凹陷，划痕，脏污，水波纹等缺陷时，条纹图像产生变形，实现检测效果，检测效果稳定，能够做到大面积、大视野的检测。

本实用新型的目的通过以下技术方案实现。

一种平面同轴条纹光源检测机构，包括导光板和设置于导光板旁侧的发光灯条，所述导光板的表面设置有若干个并列设置的导光部，所述导光部呈长条形状，所述导光部包括反光层和包覆于反光层外部的遮光层。

其中，所述发光灯条设置于导光板的侧面，并与导光板位于同一水平面上。

其中，相邻的两个导光部的间隔距离为0.4mm-0.7mm。

其中，所述导光部的反射光层为白色反光条印丝层，其宽度为0.20mm-0.24mm；所述导光部的遮光层为黑色反光条印丝层，其宽度为0.30mm-0.32mm。

其中，所述导光部的横截面呈圆弧状。

其中，所述导光板的上端设置有防尘镜。

本实用新型的有益效果：一种平面同轴条纹光源检测机构，包括导光板和设置于导光板旁侧的发光灯条，所述导光板的表面设置有若干个并列设置的导光部，所述导光部呈长条形状，所述导光部包括反光层和包覆于反光层外部的遮光层，利用侧面发光灯条和导光板相结合，通过侧面导光的方式，利用导光板将光线折射至产品表面，再通过产品的光滑表面将光线反射至导光板，并穿透导光板，实现透时作用，配合摄像机成像拍照，实现反射光源和摄像机同轴照明的效果；由于导光部分为条状，拍摄光滑产品时，利用倒影把导光部的长条形在成像中呈现出来，如遇到有凸点，凹陷，划痕，脏污，水波纹等缺陷时，条纹图像产生变形，实现检测效果，检测效果稳定，能够做到大面积、大视野的检测。

附图说明

利用附图对本实用新型做进一步说明，但附图中的内容不构成对本实用新型的任何限制。

图1是本实用新型的剖面结构示意图。

图2是本实用新型导光板的剖面结构示意图。

图3是本实用新型正常产品的检测效果图。

图4是本实用新型有缺陷产品的检测效果图。

具体实施方式

结合附图1至附图4和以下实施例对本实用新型作进一步说明。

如图1所示，一种平面同轴条纹光源检测机构，包括导光板1和设置于导光板1旁侧的发光灯条2，所述导光板1的表面设置有若干个并列设置的导光部11，所述导光部11呈长条形状，所述导光部11包括反光层111和包覆于反光层111外部的遮光层112。

本实施例将产品3放置于导光板1的正下方，将摄像机4放置于导光板1的正上方，利用侧面发光灯条2和导光板1相结合，通过侧面导光的方式，利用导光板1将光线折射至产品3表面，再通过产品3的光滑表面将光线反射至导光板1，并穿透导光板1（导光板1可透光），实现透时作用，配合摄像机4对产品3的反射光源进行成像拍照，实现反射光源和摄像机4同轴照明的效果；由于导光部11为长条状，拍摄产品3时，利用倒影把导光部11的长条形状在成像拍照中呈现出来，如遇到有凸点、凹陷、划痕、脏污和水波纹等缺陷时，长条形状会产生变形，实现检测效果，本实用新型检测效果稳定，能够做到大面积、大视野的检测。

本实施例中，所述发光灯条2设置于导光板1的侧面，并与导光板1位于同一水平面上，发光灯条2照射光线水平进入导光板1内，通过导光板1折射至产品3表面，保证照射光线和折射光线呈垂直的状态。

本实施例中，相邻的两个导光部11的间隔距离为0.4mm-0.7mm，作为最佳的实施方式，相邻的两个导光部11的间隔距离为0.6mm，导光部11之间的间隔距离密集，能够充分将产品3表面的缺陷给检测出来，提升检测效果。