[实用新型]一种IC测试分体式压头

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种IC测试分体式压头，属于IC测试技术领域。

背景技术

集成电路(integrated circuit)是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，它在电路中用字母IC表示，集成电路发明者为杰克·基尔比(基于锗(Ge)的集成电路)和罗伯特·诺伊思(基于硅(Si)的集成电路)，当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路，现有的IC测试厂，是采用吸嘴将IC吸取后，通过弹簧自身的弹力放置在测试机内测试，弹簧的弹力是通过线圈数量n/线直径Q/弹簧高度H/及材质特性4个方面来控制弹力的，因IC是硅片制作，弹力控制不好，容易导致碎片，在加上弹簧使用寿命不易控制，给检测带来了不便。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题克服现有的缺陷，提供一种IC测试分体式压头，直接计算/设计用304不锈钢制作分体式吸压头进行测试，杜绝IC被压碎的可能，使用寿命长，组件很少，装配简单，可以有效解决背景技术中的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：

一种IC测试分体式压头，包括把手、连接杆、测试压头，所述把手与连接杆之间通过螺纹杆连接，所述把手、连接杆、螺纹杆内均设置有吸压通孔，所述把手顶部还设有气囊，所述连接杆上还套接有定位板，所述连接杆的外表面上设置有螺纹，所述定位板通过螺纹连接的方式连接在连接杆上，所述测试压头内部设有测试吸嘴，且所述测试吸嘴伸出测试压头，所述测试吸嘴端部设有测试槽，所述测试吸嘴端部四周设有梅花纹路，所述梅花纹路设置于测试槽底部，所述测试压头底部还设有定位槽。

进一步而言，所述把手、连接杆、测试压头、螺纹杆均为304不锈钢材质，所述定位板的厚度为2.5mm。

进一步而言，所述气囊底部设有略大于吸压通孔直径的连接管。

进一步而言，所述把手、连接杆内部均设置有与螺纹杆直径相匹配的内螺纹。

进一步而言，所述定位槽的宽度为2mm，所述把手顶部还设置有倒角。

本实用新型有益效果：一种IC测试分体式压头，由IC的厚度，直接计算/设计用304不锈钢制作分体式吸压头进行测试，替代了传统的弹簧结构，杜绝IC被压碎的可能，使用寿命长，组件很少，装配简单，通过改变定位板在连接杆上的位置、以及螺纹杆的伸入长度便于改变整体的长度，方便定位，使用起来更加方便，通过在测试吸嘴四周设置梅花纹路方便吸引IC产品，不易卡死IC产品，便于检测以及拆卸，通过定位槽方便实现整体结构的定位，使用更加便捷，提高了检测效率。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。

图1是本实用新型一种IC测试分体式压头结构图。

图2是本实用新型一种IC测试分体式压头测试压头结构图。

图中标号：1、把手；2、连接杆；3、测试压头；4、定位板；5、气囊；6、螺纹杆；7、吸压通孔；8、测试吸嘴；9、测试槽；10、梅花纹路；11、定位槽。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图1-2所示，一种IC测试分体式压头，包括把手1、连接杆2、测试压头3，通过连接杆2连接把手1和测试压头3，所述把手1与连接杆2之间通过螺纹杆6连接，通过螺纹杆6的伸入长度便于改变整体的长度，所述把手1、连接杆2、螺纹杆6内均设置有吸压通孔7，所述把手1顶部还设有气囊5，通过气囊5气压传递给测试吸嘴8，所述所述连接杆2上还套接有定位板4，所述连接杆2的外表面上设置有螺纹，所述定位板4通过螺纹连接的方式连接在连接杆2上，所述测试压头3内部设有测试吸嘴8，且所述测试吸嘴8伸出测试压头3，所述测试吸嘴8顶部设有测试槽9，所述测试吸嘴8四周设有梅花纹路10，通过在测试吸嘴8四周设置梅花纹路10方便吸引IC产品，不易卡死IC产品，便于 检测以及拆卸，所述梅花纹路10设置于测试槽9底部，所述测试压头3底部还设有定位槽11，通过定位槽11方便实现整体结构的定位，使用更加便捷，提高了检测效率。