[实用新型]电容触摸屏性能测试笔及电容触摸屏性能测试机有效

专利信息
申请号: 201720898239.4 申请日: 2017-07-21
公开(公告)号: CN207164718U 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 刘将 申请(专利权)人: 深圳精智达技术股份有限公司
主分类号: G06F3/0354 分类号: G06F3/0354;G06F3/044
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所44287 代理人: 胡海国
地址: 518000 广东省深圳市龙华区观澜街道观光路1*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电容 触摸屏 性能 测试
【权利要求书】:

1.一种电容触摸屏性能测试笔,其特征在于,包括固定座和若干个设于所述固定座上的笔杆,各所述笔杆在背离与所述固定座连接的一端活动连接有伸缩笔头组件,所述伸缩笔头组件设有用于与被测产品的触摸屏表面接触的金属测试面。

2.如权利要求1所述的电容触摸屏性能测试笔,其特征在于,所述伸缩笔头组件包括弹性件、活动杆以及测试笔头;所述笔杆设有一端与外界连通的活动槽,所述弹性件置于所述活动槽中;所述活动杆包括活动插设于所述活动槽中的第一杆体和位于所述活动槽外且与所述第一杆体的一端连接的第二杆体;所述第一杆体的另一端与所述弹性件抵接,所述第二杆体之背离与所述第一杆体连接的一端与所述测试笔头固定连接;所述金属测试面为所述测试笔头之背离与所述第一杆体连接的一端端面。

3.如权利要求2所述的电容触摸屏性能测试笔,其特征在于,所述弹性件为弹簧或弹片。

4.如权利要求3所述的电容触摸屏性能测试笔,其特征在于,所述笔杆在靠近所述活动槽的槽口位置凹设形成有凹痕并在所述活动槽的槽壁内形成有与所述凹痕延伸方向相反的凸环,所述凸环具有中空通孔;所述第二杆体的直径等于或小于所述中空通孔的直径,所述第一杆体的直径大于所述中空通孔的直径。

5.如权利要求3所述的电容触摸屏性能测试笔,其特征在于,所述测试笔头呈棱数大于三的正多边形棱柱设置。

6.如权利要求2至5中任一项所述的电容触摸屏性能测试笔,其特征在于,所述测试笔头为金属测试笔头。

7.如权利要求1至5中任一项所述的电容触摸屏性能测试笔,其特征在于,所述固定座设有数量与所述笔杆相同的安装通孔,所述笔杆部分穿设于所述安装通孔中。

8.如权利要求7所述的电容触摸屏性能测试笔,其特征在于,所述笔杆的直径大于所述安装通孔的直径。

9.如权利要求8所述的电容触摸屏性能测试笔,其特征在于,所述笔杆的外壁设有金属层。

10.一种电容触摸屏性能测试机,其特征在于,包括如权利要求1至9任意一项所述的电容触摸屏性能测试笔、用于放置被测产品的测试平台、用于控制所述电容触摸屏性能测试笔运动的机械手以及用于控制所述机械手运动的控制器;所述控制器设于所述测试平台内,所述机械手与所述控制器电连接,所述电容触摸屏性能测试笔安装于所述机械手上。

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