[实用新型]一种基于JTAG的通用型串口故障注入装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种基于JTAG的通用型串口故障注入装置，属于测试技术领域。

背景技术

JTAG(Joint Test Action Group联合测试工作组)是一种国际标准测试协议(IEEE1149.1–1994)，目前多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA、ARM、PowerPC等器件。

故障注入是进行产品测试和系统验证的重要技术手段，通过向系统注入预设的故障可以用于验证系统的测试性和可靠性。采用JTAG技术来改变核心器件管脚的输出状态(高电平、低电平、高阻抗)，从而实现对产品或系统的故障注入，该方法具有实时性好、易控制、不会损坏器件等优点。

但是，Ti、Altera、Xilinx、Lattice、Freescale等厂商生产的DSP、FPGA、ARM、PowerPC等器件的JTAG信号电压各不相同，有5V、3.3V、1.8V等几种电平规格，且各种芯片的JTAG指令代码也各不相同，目前，对器件的JTAG测试或故障注入需要购买各器件生产厂商开发的专用JTAG仿真器配合其驱动程序进行使用，对于需要对不同厂商生产的各种芯片进行故障注入的用户，缺乏一种通用的基于JTAG的故障注入设备。

发明内容

本实用新型正是针对上述现有技术中存在的不足设计提供了一种基于JTAG的通用型串口故障注入装置，其目的是为需要对不同厂商生产的各种芯片进行故障注入的用户提供一种通用的基于JTAG的故障注入设备。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：

该种基于JTAG的通用型串口故障注入装置，该装置包括上位机(1)、串口模块(2)、MCU控制器(3)和JTAG电平转换模块(4)，上位机(1)与串口模块(2)连接，串口模块(2)与MCU控制器(3)连接，在MCU控制器(3)后端连接一个JTAG电平转换模块(4)，所述JTAG电平转换模块(4)将MCU控制器(3)传递来的+5V/0V电平信号转换为与目标器件(5)JTAG信号相匹配的电平，从而实现对目标器件(5)基于JTAG的故障注入；

所述MCU控制器(3)采用单片机AT89S52及其外围电路实现，其中P2口内部含有上拉电阻，可以作为JTAG信号的输出输入端口，选择其中的P2.3、P2.4、P2.5、P2.6、P2.7作为JTAG的TRST、TMS、TDI、TDO、TCK信号；

所述JTAG电平转换模块(4)由TI公司的TXS0108E芯片及其外围电路组成，该电路支持1.8V/3.3V与5V的双向电平转换，且转换电平A1～A8与VCCA电平一致、B1～B8与VCCB电平一致。

本实用新型技术方案的优点是：

1.本发明技术方案可以支持不同厂商生产的各种符合IEEE1149.1的器件，具有很强的通用性；

2.本发明技术方案的设计思路新颖，产品硬件结构简单、成本低廉、可靠性高。

附图说明

图1为本发明装置的结构组成示意图

图2为图1的结构细化示意图

图3为本发明装置中上位机内的程序流程图

图4为本发明装置中MCU控制器内的程序流程图

具体实施方式

以下将结合附图及实施例详细说明本发明内容。

参见附图1、2所示，用于基于JTAG的通用型故障注入方法的装置包括上位机1、串口模块2、MCU控制器3和JTAG电平转换模块4，上位机1与串口模块2连接，串口模块2与MCU控制器3连接，在MCU控制器3后端连接一个JTAG电平转换模块4，所述JTAG电平转换模块4将MCU控制器3传递来的+5V/0V电平信号转换为与目标器件5JTAG信号相匹配的电平，从而实现对目标器件5基于JTAG的故障注入；

所述MCU控制器3采用单片机AT89S52及其外围电路实现，其中P2口内部含有上拉电阻，可以作为JTAG信号的输出输入端口，选择其中的P2.3、P2.4、P2.5、P2.6、P2.7作为JTAG的TRST、TMS、TDI、TDO、TCK信号；

所述JTAG电平转换模块4由TI公司的TXS0108E芯片及其外围电路组成，该电路支持1.8V/3.3V与5V的双向电平转换，且转换电平A1～A8与VCCA电平一致、B1～B8与VCCB电平一致。