[实用新型]集成电路芯片的测试夹具

权利要求书

1.一种集成电路芯片的测试夹具，其特征在于：它包括底座组件（1）及上翻盖组件（2），所述上翻盖组件（2）与所述底座组件（1）绞接，所述底座组件（1）包括支撑座（11）、设置在所述支撑座（11）上端的测试PCB板（12）、设置在所述测试PCB板（12）上端的底座（13）、安装在所述底座（13）内的探针板（14）及安装在所述探针板（14）上端的浮动载板（15），所述探针板（14）与所述浮动载板（15）之间设置有若干缓冲弹簧（16），产品（17）固定放置在所述浮动载板（15）内，所述探针板（14）上安装有若干探针（18），所述底座（13）与所述浮动载板（15）上均开设有供所述探针（18）穿过的通孔，测试时，所述探针（18）的下端与所述测试PCB板（12）相接触，上端与所述产品（17）相接触。

2.根据权利要求1所述的集成电路芯片的测试夹具，其特征在于：所述上翻盖组件（2）包括翻盖（21）、旋钮（22）、螺杆（23）及压板（24），所述翻盖（21）内设置有内螺纹，所述螺杆（23）通过所述内螺纹与所述翻盖（21）相配合，所述旋钮（22）通过螺丝（25）固定连接在所述螺杆（23）上端，所述压板（24）与所述螺杆（23）下端相配合。

3.根据权利要求2所述的集成电路芯片的测试夹具，其特征在于：所述压板（24）上安装有若干等高螺丝（28），所述底座（13）上安装有若干与所述等高螺丝（25）相配合的限位螺丝（29）。

4.根据权利要求2所述的集成电路芯片的测试夹具，其特征在于：所述底座（13）的一侧设置有翻盖固定座（19），所述翻盖（21）通过所述翻盖固定座（19）与所述底座（13）绞接，绞接部位设置有扭簧（20）。

5.根据权利要求4所述的集成电路芯片的测试夹具，其特征在于：所述翻盖（21）的一侧设置有卡扣（26），所述底座（13）上设置有与所述卡扣（26）相配合的卡块（110）。

6.根据权利要求2所述的集成电路芯片的测试夹具，其特征在于：所述螺杆（23）与所述压板（24）连接处之间设置有推力滚针轴承的滚针模组（27）。