[实用新型]一种双面下针测试机构有效

专利信息
申请号: 201720943513.5 申请日: 2017-07-31
公开(公告)号: CN207301261U 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 王刚;张燕辉 申请(专利权)人: 珠海市运泰利自动化设备有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/073
代理公司: 广州市红荔专利代理有限公司44214 代理人: 王贤义
地址: 519180 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 双面 测试 机构
【权利要求书】:

1.一种双面下针测试机构,其特征在于:它包括上针模组(1)及下针模组(2),所述上针模组(1)包括上支撑板(11)、安装在所述上支撑板(11)下端的上PCB板(12)及安装在所述上PCB板(12)下端的上针板模块(13),所述下针模组(2)包括下支撑板(21)、安装在所述下支撑板(21)上端的下PCB板(22)及安装在所述下PCB板(22)上端的下针板模块(23)。

2.根据权利要求1所述的一种双面下针测试机构,其特征在于:所述上PCB板(12)及所述下PCB板(22)上均设置有若干等高支撑柱(3)。

3.根据权利要求1所述的一种双面下针测试机构,其特征在于:所述上PCB板(12)与所述下PCB板(22)上均设置有若干定位销(4),所述上针板模块(13)与所述下针板模块(23)上均开设有与所述定位销(4)相适配的定位孔。

4.根据权利要求2所述的一种双面下针测试机构,其特征在于:所述上针板模块(13)包括压板(131)及与所述压板(131)相连接的上探针板(132),所述上探针板(132)上安装有若干测试探针,所述压板(131)上开设有若干供所述测试探针穿过的通孔,工作时,所述测试探针的一端穿过所述压板(131)上的通孔与产品相接触,另一端与所述上PCB板(12)相接触。

5.根据权利要求4所述的一种双面下针测试机构,其特征在于:所述下针板模块(23)包括与所述压板(131)相适配的载板(231)及与所述载板(231)相连接的下探针板(232),所述下探针板(232)上安装有若干所述测试探针,所述载板(231)上开设有若干供所述测试探针穿过的通孔,工作时,所述测试探针的一端穿过所述载板(231)上的通孔与产品相接触,另一端与所述下PCB板(22)相接触。

6.根据权利要求5所述的一种双面下针测试机构,其特征在于:所述载板(231)上设置有产品支撑条(5)。

7.根据权利要求5所述的一种双面下针测试机构,其特征在于:所述上探针板(132)和所述下探针板(232)的两侧均设置有把手(6)。

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