[实用新型]一种适用于细观结构观测的相机支架有效

专利信息
申请号: 201720956488.4 申请日: 2017-08-02
公开(公告)号: CN206960346U 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 王星;王新志;朱长歧;沈建华;吕士展;胡明鉴;孟庆山 申请(专利权)人: 中国科学院武汉岩土力学研究所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01
代理公司: 武汉宇晨专利事务所42001 代理人: 董路,王敏锋
地址: 430071 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 适用于 结构 观测 相机 支架
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及室内土工试验技术领域,具体涉及一种适用于细观结构观测的相机支架。

背景技术

数字图像处理技术在岩土工程领域具有广阔的应用前景,它通过对处于不同试验阶段的岩土材料进行拍摄,然后对所拍摄的图像进行分析,获取相关参数对试验现象进行解释,体现了现代信息技术在岩土工程中的应用。虽然该技术具有一定的创新性,但在实际操作过程中存在很多问题有待解决:1)照相机的三脚支架不容易固定,尤其是在光滑的地板上,常常会发生三脚架突然倒塌损伤相机的现象;2)拍摄时要考虑土颗粒与背景颜色的差异,否则在对图像进行处理时不能有效的将土颗粒识别出来;3)在考虑试验前后颗粒定向排列变化的试验中,更要保证相机和土颗粒相对位置保持不变,否则试验前后的结果便不具有可比性;4)在进行土颗粒形状分析时,由于土颗粒与相机之间的位置不固定,数据处理过程中需要对每一次拍摄的图像进行标定(真实物理尺寸和像素值的换算),数据处理的效率和准确性较低。

发明内容

为了解决上述现有技术存在的问题,本实用新型提供了一种适用于细观结构观测的相机支架,该支架结构简单,操作方便,不仅可以在试验过程中牢固固定相机支架,保证试验过程中以及试验前后相机和试验对象的相对位置保持不变,而且还能在图像后处理分析时便于试验对象的识别,从而保证了试验结果的准确性。

实现本实用新型上述目的所采用的技术方案为:

一种适用于细观结构观测的相机支架,包括三根支杆、底板、顶板和两把直尺,三根支杆的上端固定于顶板上,三根支杆的下端固定于底板上,三根支杆的下端位于三角形的三个顶点上,顶板平行于底板,底板在相机的拍摄区域内铺设有圆形的吸光纸,在吸光纸上设有第一标记线和第二标记线,第一标记线和第二标记线分别为吸光纸所在圆的半径,第一标记线和第二标记线相互垂直,两把直尺均固定于吸光纸上,吸光纸所在圆的圆心到两把直尺的垂直距离均大于试样桶的半径。

所述的底板呈三角形,三根支杆的下端固定于底板的三个角上。

其中一把直尺平行于第一标记线,另一把直尺平行于第二刻度线。

其中一把直尺的半程刻度线所在的直线与第一刻度线重合,另外一把直尺的半程刻度线所在的直线与第二刻度线重合。

三根支杆的上端交汇后固定在顶板上。

与现有技术相比,本实用新型的优点与有益效果在于:

1、该支架结构简单,制作成本低,且三根支杆的下端固定在底板上,能保证支架不会发生滑动,能起到固定支架的作用。

2、在底板上铺设了与试验材料颜色相对应的吸光纸,在后期进行图像数据处理时,便于对试验对象进行识别。

3、在底板上固定了直尺,图像数据处理过程中使用直尺进行真实物理尺寸与像素值的换算,可达到对土样细观结构进行定量研究的目的。

4、相机固定在顶板上,只要在底板上对试样(桶)的位置进行标记,每次将试样桶放置在同一位置处,即可保证相机与试验材料位置保持不变,可实现对试样颗粒、孔隙数目和面积进行统计分析,也可以对试验前后土颗粒定向排列的变化进行定量研究。

5、使用该支架还能进行土颗粒形状的定量分析,并且在进行土颗粒形状定量分析时,只需执行一次标定程序,即可提取多组土颗粒的形状数据。

附图说明

图1为适用于细观结构观测的相机支架的结构示意图。

图2为适用于细观结构观测的相机支架试验时的装配示意图。

图3为试样桶的结构示意图。

其中,1-支杆、2-底板、3-顶板、4-直尺、5-吸光纸、6-第一标记线、7-第二标记线、8-第三标记线、9-相机、10-试样桶、11-底座。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型进行详细说明。

本实用新型提供的适用于细观结构观测的相机支架的结构如图1和图2所示,该相机支架包括三根支杆1、底板2、顶板3和两把直尺4。

底板1呈三角形,底板所用的材质为硬质木板,成本低。底板1在相机的拍摄区域内铺设有圆形的吸光纸5,在吸光纸5上设有第一标记线6和第二标记线7,第一标记线6和第二标记线7分别为吸光纸所在圆的半径,第一标记线6和第二标记线7相互垂直。两把直尺4均固定于吸光纸5上,吸光纸5所在圆的圆心到两把直尺4的垂直距离均大于试样桶的半径。其中一把直尺4平行于第一标记线6,该直尺4的半程刻度线所在的直线与第二刻度线7重合;另一把直尺4平行于第二刻度线7,该直尺4的半程刻度线所在的直线与第一刻度线6重合。

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