[实用新型]光学膜视觉智能检测及不良品剔除设备有效
申请号: | 201720959251.1 | 申请日: | 2017-08-02 |
公开(公告)号: | CN207204648U | 公开(公告)日: | 2018-04-10 |
发明(设计)人: | 徐涛;周永 | 申请(专利权)人: | 苏州市朗电机器人有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;B26D1/06;B29C65/48;G01N21/88 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司32103 | 代理人: | 马明渡,陈昊宇 |
地址: | 215222 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 视觉 智能 检测 不良 剔除 设备 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种检测设备,具体涉及一种光学膜的视觉智能检测及不良品剔除设备,所述光学膜包括用于手机或平板电脑中的增亮膜、保护膜等。
背景技术
随着科学技术的不断发展进步,电子产品尤其是移动智能终端产品的市场不断扩大,应运而生的,便是对光学膜的大量需求。
光学膜产品种类繁多,在移动智能终端产品上应用广泛,其中,以增亮膜为典型。增亮膜(BEF,Brightness Enhancement Film)是应用于TFT、LCD背光模块中以改善电子设备整个背光系统发光效率为宗旨的薄膜或薄片,其广泛应用于液晶显示中。在增亮膜产品的生产过程中,检测环节至关重要,该检测环节的目的是检测增亮膜的表面是否有污点、损坏、划痕、折痕等一切有碍增亮膜品控的缺陷。然而,现有的检测方式却存在以下不足:
一、完全人工检测,通过检测人员人眼对增亮膜产品进行观察,寻找有缺陷的增亮膜并剔除;该人工检测的方式导致企业的用人成本居高不下,并且检测效率不佳;实际上,人眼检测还易发生疲劳,产生漏检,因此还存在可靠性低的问题,导致产品质量不稳定;
二、机械检测,意图通过自动化的检测设备来代替人工检测;但纵观业内,尚无设计合理的方案,现有的检测设备或机构过于复杂、存在过多结构冗余,或检测效率欠佳、可靠性低;另外,由于增亮膜产品于检测时通常间隔布置于带状基膜上,并通过一带状保护膜覆盖,因此在进行检测时,设备经常由于所述保护膜的遮盖遗漏增亮膜本身存在的缺陷,有时也会误将保护膜上的缺陷当作增亮膜的缺陷进行识别和剔除,造成误检,带来产品的浪费。
因此,如何解决上述现有技术存在的不足,便成为本实用新型所要研究解决的课题。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种光学膜视觉智能检测及不良品剔除设备。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是:
一种光学膜视觉智能检测及不良品剔除设备,用于检测光学膜料带中的光学膜产品,所述光学膜料带由保护膜、光学膜产品以及基膜从上到下组合而成;其中,所述检测设备包括一机架,该机架的长度方向为X轴方向,机架的宽度方向为Y轴方向;所述光学膜料带沿X轴方向在机架中从前向后位移,所述机架以所述光学膜料带为基准在Z轴方向分为上部空间和下部空间;
所述检测设备还包括沿X轴方向从前向后依次设置于机架中的供料单元、检测单元、不良品剔除单元以及收料单元;其中,
所述供料单元包括:
一供料模组,包括一第一供料轴,该第一供料轴沿Y轴方向水平设置,并相对所述机架转动;第一供料轴上套设定位有光学膜供料卷,该光学膜供料卷用于提供光学膜料带;
一保护膜揭取机构,设于所述机架的上部空间,用于揭取所述保护膜;所述保护膜揭取机构包括沿X轴方向从前向后依次设置于机架中的胶带供料模组、胶带按压贴敷模组以及保护膜揭取模组;其中,
所述胶带供料模组包括第二供料轴,该第二供料轴沿Y轴方向水平设置,并相对所述机架转动;第二供料轴上套设定位有胶带料卷,当该胶带料卷转动时,所述胶带料卷中的胶带从所述光学膜料带的上方传送至光学膜料带上,并进入所述胶带按压贴敷模组与所述光学膜料带进行贴敷定位;
所述胶带按压贴敷模组包括一第一按压件以及间隙配合于该第一按压件的一第二按压件,两者均沿Y轴方向水平设置;其中,所述第一按压件与所述第二按压件的间隙小于或等于所述光学膜料带与所述胶带贴敷后的总厚度,构成当所述光学膜料带与所述胶带同时进入胶带按压贴敷模组时,所述胶带和所述光学膜料带通过第一按压件与第二按压件的挤压配合,迫使胶带下方的粘贴面贴敷于所述光学膜料带的保护膜上部,结合之后的组合料带进入所述保护膜揭取模组;
所述保护膜揭取模组包括第一收料轴以及用于驱动该第一收料轴绕Y轴方向旋转的第一驱动机构;所述第一收料轴沿Y轴方向水平设置,并相对所述机架转动,第一收料轴上套设定位有一回收料卷;所述胶带从所述光学膜料带中贴敷并揭取所述保护膜,然后收卷定位于所述第一收料轴上形成所述回收料卷;当该回收料卷转动时,所述胶带持续从所述光学膜料带上揭取所述保护膜,被揭取保护膜之后的光学膜料带成为光学膜裸料带,并位移至所述检测单元进行光学检测;
所述检测单元包括:
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