[实用新型]一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备

权利要求书

1.一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，其特征在于，包括：待测部件、供电源、照相机、密封暗箱和电脑，所述待测部件为晶硅组件，所述待测部件和照相机设置在密封暗箱中，所述照相机的摄像头对准待测部件的正面，所述电脑设置在密封暗箱的外侧，所述照相机的输出端与电脑线性连接而把待测部件的照片输入电脑，所述供电源与待测部件之间线性连接而通电使得待测部件发光。

2.根据权利要求1所述的自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，其特征在于，所述供电源为直流电源，所述供电源为待测部件提供的电流为0.1A-20A。

3.根据权利要求1所述的自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，其特征在于，所述照相机为CCD高清数码相机。

4.根据权利要求1所述的自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，其特征在于，所述供电源设置在密封暗箱的内侧或者外侧。

5.根据权利要求1所述的自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，其特征在于，所述供电源的输出端设置有钳位电压保护模块。

6.根据权利要求1所述的自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，其特征在于，所述电脑上连接设置有扫码装置。