[实用新型]一种带校验比例尺的系统标准块

说明书

技术领域

本实用新型涉及实验测量器材技术领域，尤其涉及一种带校验比例尺的系统标准块。

背景技术

显微镜所用的系统标准块为样品测量提供校准的比对依据，以证明测量设备在测量颗粒尺寸时设备自身的准确性，现有的系统标准块在校验比例的精确度控制上仍然存在改进空间。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种带校验比例尺的系统标准块，以解决现有技术中的不足。

为了达到上述目的，本实用新型的目的是通过下述技术方案实现的：

提供一种带校验比例尺的系统标准块，包括块体，所述块体包括基座，所述基座的中部由上而下分别设有具有一定间隙的玻璃面板和玻璃背板，所述玻璃面板、所述玻璃背板分别与基座的顶面、底面齐平，所述玻璃面板的表面中心分布有颗粒群，所述颗粒群包括矩形颗粒群和位于所述矩形颗粒群内的环形颗粒群，所述矩形颗粒群的两条相邻侧边上分别设有X轴校验比例尺和Y轴校验比例尺，所述玻璃背板为白色，所述基座为矩形体，所述基座的两个相邻边角上设有防滑柱。

上述带校验比例尺的系统标准块，其中，所述玻璃面板为圆形，所述玻璃背板为正方形。

上述带校验比例尺的系统标准块，其中，所述玻璃背板的四个边角处分别设有凸柱。

上述带校验比例尺的系统标准块，其中，所述块体为铝合金制成。

与已有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

可有效防滑，方便操作，由铝合金制成，轻便易取，不易生锈，安全耐用，可有效提高校验比例控制的精确度。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1示出了本实用新型带校验比例尺的系统标准块的结构示意图。

图2示出了本实用新型带校验比例尺的系统标准块的俯视图；

图3示出了图2中沿着B-B线的剖视图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

参考图1、图2和图3所示，本实用新型带校验比例尺的系统标准块包括块体，块体包括基座1，基座1的中部由上而下分别设有具有一定间隙的玻璃面板2和玻璃背板3，玻璃面板2、玻璃背板3分别与基座1的顶面、底面齐平，玻璃面板2的表面中心分布有颗粒群，颗粒群包括矩形颗粒群4和位于矩形颗粒群4内的环形颗粒群5，矩形颗粒群4的两条相邻侧边上分别设有X轴校验比例尺6和Y轴校验比例尺7，颗粒为激光雕刻于玻璃板上，尺寸由国外第三方实验室校准，玻璃背板3为白色，对光源的反射率更佳，基座1为矩形体，基座1的两个相邻边角上设有防滑柱8。本技术方案中，玻璃面板2为圆形，玻璃背板3为正方形，玻璃背板3的四个边角处分别设有凸柱9，块体为铝合金制成，轻便易取，不易生锈。本标准块为模块化尺寸，与外部扫描台凹槽尺寸匹配。

从上述实施例可以看出，本实用新型的优势在于：

可有效防滑，方便操作，由铝合金制成，轻便易取，不易生锈，安全耐用，可有效提高校验比例控制的精确度。

以上对本实用新型的具体实施例进行了详细描述，但本实用新型并不限制于以上描述的具体实施例，其只是作为范例。对于本领域技术人员而言，任何等同修改和替代也都在本实用新型的范畴之中。因此，在不脱离本实用新型的精神和范围下所作出的均等变换和修改，都应涵盖在本实用新型的范围内。