[实用新型]测量装置及投影测量仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，特别涉及一种测量装置及应用该测量装置的投影测量仪。

背景技术

传统的投影测量仪包括玻璃平台、安装于该玻璃平台的一挡块治具、均设于玻璃平台上方的摄像头和顶部照明装置、及设于玻璃平台下方的底部照明装置。在测量时，将工件放置于玻璃平台上，并使工件的贴紧边紧贴挡块治具的抵挡面，而后，顶部照明装置和底部照明装置均朝工件照射光线，利用摄像头进行自动测量。然而，由于挡块治具为不透光结构，且挡块治具的抵挡面与被测工件的贴紧边紧密接触，阻挡了底部光线向上的照射，造成摄像头自动测量时，被测工件的贴紧边显示为阴影或模糊不清。因此，每次测量工件后都需校正工件，也即需进一步将工件校正翻转90度或180度进行测量其未测量的贴紧边，工件的校正翻转影响了测量精度，也增加了测量时间，降低测量效率。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种测量装置，旨在解决传统的测量装置在测量工件时测量精度较低、测量时间较长、测量效率较低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提出的测量装置，应用于投影测量仪，其特征在于，所述测量装置包括承载平台和设于所述承载平台的挡块治具，所述承载平台具有可透光结构，所述挡块治具具有一抵挡面；

所述抵挡面凹设有若干透光凹槽；

且/或，挡块治具具有可透光结构。

可选地，所述承载平台包括承载基座和固定框，所述承载基座的周缘均搭载于所述固定框。

可选地，所述挡块治具包括固定于所述固定框的固定部，所述固定部的端部凸设有一延伸部，所述延伸部与所述承载基座相对设置，所述延伸部远离所述固定部的一端形成所述抵挡面。

可选地，所述测量装置还包括若干连接件，所述固定部开设有若干安装孔，所述连接件的一端贯穿所述安装孔，并与所述固定框连接，另一端抵接于安装孔的周缘。

可选地，所述抵挡面凹设有若干透光凹槽时，所述透光凹槽的宽度范围为5-10mm；且/或，所述透光凹槽的深度范围为5-15mm。

可选地，所述抵挡面凹设有若干透光凹槽时，所述透光凹槽为“U”形槽、“V”形槽、半圆形槽或梯形槽。

可选地，所述挡块治具形成所述抵挡面的端部的长度范围为150-200mm；且/或，所述挡块治具的厚度范围为15-20mm。

可选地，所述承载基座的材质为透明玻璃、透明塑料或透明水晶。

本实用新型还提出一种投影测量仪，包括如上述的测量装置，所述投影测量仪还包括位于所述承载平台上方的顶部照明装置和位于所述承载平台下方的底部照明装置。

可选地，所述投影测量仪还包括位于所述承载平台上方的摄像头，所述摄像头与所述承载平台相对设置。

本实用新型技术方案中测量装置应用于投影测量仪，测量装置包括承载平台和设于承载平台的挡块治具，承载平台为可透光结构，所述挡块治具具有一抵挡面。所述抵挡面凹设有若干透光凹槽；测量装置测量工件时，将工件放置于承载平台上，并使工件的贴紧边紧贴挡块治具的抵挡面，而后，工件受到来自承载平台上方及下方的光线照射，承载平台下方的光线透过承载平台后，进一步通过透光凹槽穿过挡块治具向上照射，以使工件的贴紧边亮光，而使得工件的贴紧边清晰可见，从而能够更加清楚地测量贴紧边的尺寸，工件摆放一次即可完成测量，而无需进一步校正工件，因此提高了测量精度，减少了测量时间，提高了测量效率。

且/或，承载平台为可透光结构；测量装置测量工件时，将工件放置于承载平台上，并使工件的贴紧边紧贴挡块治具的抵挡面，而后，工件受到来自承载平台上方及下方的光线照射，由于挡块治具具有可透光结构，承载平台下方的光线透过承载平台后，进一步穿过挡块治具向上照射，以使工件的贴紧边亮光，而使得工件的贴紧边清晰可见，从而能够更加清楚地测量贴紧边的尺寸，工件摆放一次即可完成测量，而无需进一步校正工件，因此提高了测量精度，减少了测量时间，提高了测量效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型投影测量仪实施例一视角的结构示意图；

图2为本实用新型投影测量仪实施例另一视角的结构示意图；

图3为本实用新型投影测量仪实施例中挡块治具一视角的结构示意图；