[实用新型]集成电路测试系统时间传递标准器组有效
申请号: | 201721040218.5 | 申请日: | 2017-08-18 |
公开(公告)号: | CN207148302U | 公开(公告)日: | 2018-03-27 |
发明(设计)人: | 赵昭;于利红;张继平 | 申请(专利权)人: | 中国电子技术标准化研究院 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;G01R31/00 |
代理公司: | 北京慧智兴达知识产权代理有限公司11615 | 代理人: | 韩龙,郭群 |
地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 测试 系统 时间 传递 标准 | ||
1.一种集成电路测试系统时间传递标准器组,其特征在于,所述时间传递标准器组包括第一时间传递标准器和第二时间传递标准器;
所述第一时间传递标准器包括第一集成电路,所述第一集成电路包括有第一信号输入端和分别与该第一信号输入端连接的第一延时电路、第二延时电路、第三延时电路、第四延时电路、第五延时电路和第六延时电路,所述第一延时电路、第二延时电路、第三延时电路、第四延时电路、第五延时电路和第六延时电路对应的延时时间分别为10ns、20ns、30ns、40ns、50ns和100ns,所述第一延时电路、第二延时电路、第三延时电路、第四延时电路、第五延时电路和第六延时电路的信号输出端分别连接有一个输出引脚;
所述第二时间传递标准器包括第二集成电路,所述第二集成电路包括有第二信号输入端和分别与该第二信号输入端连接的第七延时电路和第八延时电路,所述第七延时电路和第八延时电路对应的延时时间分别为2ns、5ns,所述第七延时电路和第八延时电路的信号输出端分别连接有一个输出引脚。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统时间传递标准器组,其特征在于,所述第一时间传递标准器还包括:容纳所述第一集成电路的第一外壳和第一底板,所述第一底板固定到所述第一外壳上,所述第一底板上有两排引脚孔,所述引脚孔的数量大于或等于所述第一集成电路引脚的数量,所述引脚孔的排列形式和距离均和第一集成电路的输出引脚的排列形式相对应,以使所述集成电路的输出引脚通过所述引脚孔穿出所述第一底板;
所述第二时间传递标准器还包括:容纳所述第二集成电路的第二外壳和第二底板,所述第二底板固定到所述第二外壳上,所述第二底板上有两排引脚孔,所述引脚孔的数量大于或等于所述第二集成电路引脚的数量,所述引脚孔的排列形式和距离均和第二集成电路的输出引脚的排列形式相对应,以使所述集成电路的输出引脚通过所述引脚孔穿出所述第二底板。
3.根据权利要求1所述的集成电路测试系统时间传递标准器组,其特征在于,所述第一集成电路和所述第二集成电路的封装形式均为双列直插式。
4.根据权利要求3所述的集成电路测试系统时间传递标准器组,其特征在于,所述第一集成电路和所述第二集成电路标称尺寸均为300mil,引脚间距均为2.54mm。
5.根据权利要求1所述的集成电路测试系统时间传递标准器组,其特征在于,所述第一集成电路采用精密时间发生芯片EP6400-1实现,所述第二集成电路采用精密时间发生芯片EP6400-6来实现。
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