[实用新型]珠宝检测用光纤有效

专利信息
申请号: 201721062169.5 申请日: 2017-08-23
公开(公告)号: CN207248721U 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 汪会梅;林间;徐剑 申请(专利权)人: 南京盛略科技有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/15;G01N21/952;G02B6/44
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 210019 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 珠宝 检测 用光
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及珠宝光学检测领域,特别涉及一种珠宝检测用光纤。

背景技术

随着人们生活水平的发展,珠宝作为一种艺术品、纪念品已经受到了越来越多人的喜爱,因此,珠宝检测也显得越来重要,其中,珠宝的光学检测以其快捷、不损伤珠宝等优越性正被广泛的使用。

目前,市场上珠宝的光学检测多采用光源直接照射然后肉眼观察的形式,这样虽然能够对大部分的珠宝产品进行检测,但是对于珠宝产品的凹陷结构,普通的光照观察很难观察其细致结构,影响检测准确度。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种珠宝检测用光纤,其优点是方便对珠宝产品上的凹陷结构进行检测。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种珠宝检测用光纤,包括光纤束和光纤分支器,所述光纤束包括一根主光纤束和两根副光纤束,所述主光纤束和两根副光纤束通过光纤分支器连接,所述主光纤束的末端设有检测头,所述检测头上可拆卸连接有检测管,所述副光纤束的末端设有光纤接头。

通过上述技术方案,两根副光纤束通过光纤接头可以连接至光学设备,检测头和检测管用于检测珠宝产品,在使用时,两根副光纤束中的一根连接至光源,另一根连接至光学分析仪器,光源发出的光线经过副光纤束和主光线束后,经由检测头和检测管照射在珠宝产品上,光线被珠宝产品发射后经由检测管和检测头进入主光纤束,随后通过另一根副光线束进入光学分析仪器,通过对反射回来光线的分析即可判断珠宝产品的部分品质;检测管使用灵活,方便检测珠宝产品上的凹陷结构或者其他复杂结构。

本实用新型进一步设置为:所述检测头靠近检测管的一侧设有内螺纹,所述检测管靠近检测头的一端设有与内螺纹配合的外螺纹。

通过上述技术方案,通过外螺纹和内螺纹的配合实现了检测管和检测头的连接,螺纹连接精度高且稳定可靠,检测管在使用过程中功能稳定不易脱落。

本实用新型进一步设置为:所述检测管外侧靠近检测头的位置设有蝶翅。

通过上述技术方案,在旋转检测管时,蝶翅方便使用工具来转动检测管,蝶翅靠近检测头,因而不会影响检测管的使用。

本实用新型进一步设置为:所述光纤束包括光缆,所述光缆包括若干光纤,所述光纤设有七根,七根所述光纤呈六边形布置。

通过上述技术方案,七根光纤提升了整体的使用可靠性,即使光纤部分损坏,其他光纤依然能够保证使用功能,七根光纤呈六边形布置使得光纤布置紧密、不易松散,且光纤之间能够互相支撑,提高了光纤束的强度。

本实用新型进一步设置为:所述光缆包括包裹七根光纤的包皮。

通过上述技术方案,包皮包裹光纤,使得光纤结构稳定不易松散,同时,包皮能够保护光纤,减少光纤被异物损坏。

本实用新型进一步设置为:所述光纤束包括设置在光缆外侧的蛇形管。

通过上述技术方案,蛇形管保护光纤束不被损坏,蛇形管可弯折,不会影响光纤束的弯曲,不影响整体的使用功能。

本实用新型进一步设置为:所述检测管上远离检测头的一端套设有防尘帽。

通过上述技术方案,防尘帽用于对检测管的防尘,检测管不使用时,将防尘帽套在检测管上,即可减少空气中的灰尘落入检测管,提高了检测管的使用可靠性。

本实用新型进一步设置为:所述检测管远离检测头的一端设有缓冲垫。

通过上述技术方案,缓冲垫使用弹性较好的材料制成,在使用检测管检测珠宝表面时,缓冲垫能够避免检测管直接触碰到珠宝产品的表面,减少了在检测珠宝产品时对其造成的损伤。

本实用新型进一步设置为:所述光纤接头上设有防尘件,所述防尘件的一端设有套帽,所述防尘件的另一端设有凹槽,所述防尘件上位于套帽和通槽之间的位置设有柱塞。

通过上述技术方案,防尘件用于对光纤接头的防尘,防线件通过通槽连接在副光纤束上,套帽用于套在光纤接头的端部,减少灰尘对光纤接头造成的不利影响,柱塞与套帽配合,套帽在闲置时,将柱塞插入套帽中,减少灰尘落入套帽中,进而减少套帽对光纤接头造成的二次污染。

本实用新型进一步设置为:所述通槽包括圆形槽和矩形槽,所述矩形槽和圆形槽连通。

通过上述技术方案,副光纤束穿过圆形槽,防尘件不易脱落,矩形槽的设置方便了防尘件的安装和取下,需要取下时,撑开矩形槽,即可将防尘件从光纤接头上取下。

综上所述,本实用新型具有以下有益效果:

1、通过检测管、检测头和光纤束的配合使用,可以对珠宝产品的凹陷结构以及其他的复杂结构进行光学检测;

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