[实用新型]单键综合塞规

说明书

技术领域

本实用新型涉及机械加工检测领域，具体涉及一种单键综合塞规。

背景技术

目前在行业单键综合塞规的设计采用了两个轴向间隔的圆柱定位面，如图1所示，圆柱定位面包括圆柱定位面1和圆柱定位面2，两圆柱定位面之间为半径较小的过渡圆3，检测单键4一体成型于过渡圆柱3的外圆上，采用此结构虽然轴向尺寸较长，但是各部分(圆柱定位面和检测单键)独自后则轴向尺寸较短，检测精度不是完全反应工件的实际状况，尤其是在键槽的轴向性和孔的圆柱度等方面；并且中间过渡圆柱和检测单键铣削加工较难，加工周期长，技术要求高，废品率也高。

因此，为解决以上问题，需要一种单键综合塞规，能够避免各检测量的轴向尺寸过短而造成检测精度不高，保证量具的高精度，同时简化加工工艺难度，减小废品率和缩短加工周期。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的是克服现有技术中的缺陷，提供单键综合塞规，能够避免各检测量的轴向尺寸过短而造成检测精度不高，保证量具的高精度，同时简化加工工艺难度，减小废品率和缩短加工周期。

本实用新型的单键综合塞规，包括塞规头和固定于塞规头的手柄，所述塞规头的外圆形成柱面定位面，所述塞规头上固定设置有径向截面与柱面定位面的对应径向截面共面的检测单键。

进一步，所述检测单键以可拆卸的方式固定安装于塞规头。

进一步，所述塞规头的外圆设置有沿轴向分布的平底条形槽，所述检测单键安装固定于平底条形槽的槽底。

进一步，所述检测单键沿径向贯穿设置有固定螺钉，所述平底条形槽的槽底设置有与固定螺钉螺纹配合用于固定检测单键的螺纹孔。

进一步，所述固定螺钉为两个且两个固定螺钉沿轴向并列分布。

进一步，所述固定螺钉紧固后通过对固定螺钉和/或检测单键涂覆强力胶进行二次固定。

进一步，所述柱面定位面或检测单键的轴向长度为L，定位孔的直径为D,则L/D＞0.6。

进一步，所述柱面定位面或检测单键的轴向长度为L，定位孔的长度为L₀,则L/L₀＞0.6。

进一步，所述塞规头和检测单键均用35CrMoV材料加工而成。

进一步，所述柱面定位面和检测单键的轴向两端均设置有倾角为7.5°的导向锥面。

本实用新型的有益效果是：本实用新型公开的一种单键综合塞规，通过采用分体式设计，保证了零件加工的高精度，降低了加工难度；同时，各零件具有一定的互换性，提高了零件的使用率，减少了加工、使用中的废品；其次，将检测单键与柱面定位面处于同一截面设计，同时增加了检测区域的长度，直接增加了检测的准确性，提高了检测精度。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步描述：

图1为现有技术中单键综合塞规的结构示意图；

图2为本实用新型的结构示意图；

图3为本实用新型横截面的结构示意图。

具体实施方式

图1为现有技术中单键综合塞规的结构示意图，图2为本实用新型的结构示意图，图3为本实用新型横截面的结构示意图，如图所示，本实施例中的单键综合塞规，包括塞规头5和固定于塞规头5的手柄6，所述塞规头5的外圆形成柱面定位面7，所述塞规头5上固定设置有径向截面与柱面定位面7的对应径向截面共面的检测单键8；柱面定位面7的对应径向截面表示与检测单键8的同一径向截面，轴向和径向均表示塞规头5的轴向和径向；所述柱面定位面7设置为一个，而检测单键8可沿轴向分布设置于柱面定位面7上，可避免中间半径较小的过渡圆柱的加工，减小加工工艺的难度，同时由于柱面定位面7和检测单键8同截面存在，提高了量具的检测精度，并且柱面定位面7和检测单键8的轴向尺寸设置较长，进一步提高了检测精度。

本实施例中，所述检测单键8以可拆卸的方式固定安装于塞规头5；检测单键8和塞规头5在加工和使用过程中，如有部件超差报废，只需将报废部件取下，新配加工或装配一件即可，可大大的减少废品，节约成本。

本实施例中，所述塞规头5的外圆设置有沿轴向分布的平底条形槽9，所述检测单键8安装固定于平底条形槽9的槽底；平底结构易于加工，加工精度高，装配精度高，报废率低。

本实施例中，所述检测单键8沿径向贯穿设置有固定螺钉10，所述平底条形槽9的槽底设置有与固定螺钉10螺纹配合用于固定检测单键8的螺纹孔；所述检测单键8的径向外端面设置用于容纳固定螺钉10螺帽的凹槽，通过固定螺钉10固定检测单键8，装配方便，固定牢固。