[实用新型]一种面板检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及平板显示领域，特别涉及一种面板检测电路。

背景技术

AMOLED面板在蒸镀封装完毕后，通过单色点亮画面来检测产品的缺陷情况。如图1所示，母板上有若干个cell面板单元，通过外围走线将信号线引出到左右侧边缘PAD位置。由信号发生器产生特定驱动信号，经过线缆和接触头与PAD接触。

由于生产车间存在灰尘微粒，金属层成膜后有金属或者其他导电异物的残留，使得A.A.不同信号走线之间发生短路，例如出现竖方向线缺陷，通常是source线与其他走线发生短路，电压被迫改变。而source线与测试共用信号线是通过TFT连通的，测试共用信号线的电压也跟随发生改变，最终所有cell面板单元的信号电压也发生改变，显示画面颜色发生变化。

实用新型内容

本实用新型实施例的目的在于提供一种面板检测电路，有效减轻或消除了短路缺陷导致的所述cell面板单元显示画面色偏。

本实用新型实施例提供的一种面板检测电路，包括VDR、VDG及VDB共用信号线，所述VDR、VDG及VDB共用信号线在与每个cell面板单元的PAD连接处分别设置一个电阻，或者所述VDR、VDG及VDB共用信号线分别通过开关TFT与A.A.source线连接，在所述开关TFT与A.A.source线连接处分别设置一个电阻，其中所述VDR、VDG和VDB为所述cell面板单元提供红绿蓝数据信号，所述cell面板单元还连接控制检测的开关信号。

可选地，所述VDR、VDG和VDB共用信号线用金属走线，电阻走线通过多晶硅层实现，所述开关TFT与A.A.source线连接的电阻走线通过多晶硅实现。

可选地，所述检测电路设置在所述cell面板单元的顶部或者底部。

可选地，当开关信号为低电平时，所述VDR、VDG和VDB共用信号线提供数据信号传输给所述cell面板单元。

由上可见，应用本实施例技术方案，由于所述面板检测电路在短路发生的情况下有效减轻电压的偏移量，使显示画面颜色变化控制在合理的范围内，有效减轻或消除了短路缺陷导致的所述cell面板单元显示画面色偏。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型提供的一种有若干个cell面板单元的母板示意图；

图2为本实用新型提供的一种面板检测电路结构图；

图3为图2中面板检测电路原理图；

图4为本实用新型提供的另一种面板检测电路结构图；

图5为图4中面板检测电路原理图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例：

本实施例提供一种适用于平板显示技术领域针对阵列基板驱动的面板检测电路，可以有效减轻或消除由于A.A.发生短路缺陷导致显示偏色的问题。

本实施例提供的一种面板检测电路，如图2所示，包括提供红绿蓝数据信号的VDR、VDG及VDB共用信号线，所述VDR、VDG及VDB共用信号线在与每个cell面板单元的PAD连接处分别设置一个电阻，CTSW为检测的控制的开关信号。当所述CTSW为低电平时，所述VDR、VDG和VDB共用信号线提供数据信号传输所述cell面板单元中。所述VDR、VDG和VDB共用信号线等外围走线及和所述cell面板单元的走线为金属走线，电阻走线通过多晶硅层实现。

所述cell面板单元内部的短路缺陷导致Vdata电压受到影响，从而发生色偏现象。如图3所示，有两个所述cell面板单元A和B，其中所述cell面板单元A有缺陷发生，例如所述cell面板单元在像素区内部source线与Vx电压发生短路(图3中箭头指示位置)。

为简便分析，忽略像素充电电流，B cell的source线电压可表示为：