[实用新型]一种含极化调控层的AlGaN基量子阱红外探测器有效

专利信息
申请号: 201721100193.3 申请日: 2017-08-30
公开(公告)号: CN207165585U 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 康健彬;李沫;李倩;王旺平;陈飞良;张健 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院电子工程研究所
主分类号: H01L31/0304 分类号: H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/109;H01L31/18
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙)51211 代理人: 蒋斯琪
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 极化 调控 algan 量子 红外探测器
【权利要求书】:

1.一种含极化调控层的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于,按照材料结构自下至上依次包括:衬底、缓冲层、成核层、下电极接触层、功能层和上电极接触层;所述缓冲层、成核层、下电极接触层、功能层和上电极接触层所选材料均为AlGaN,Al组分任意可调;所述功能层包括量子势阱层、极化调控层和量子势垒层,所述量子势阱层的厚度为0.0005 µm至0.01 µm,所述极化调控层的厚度为0.002 µm至0.05 µm,所述量子势垒层的厚度为0.02 µm至0.2 µm;所述量子势阱层、极化调控层和量子势垒层由周期性AlxGa1-xN/AlyGa1-yN/ AlzGa1-zN复合异质结构构成,其中:AlxGa1-xN为量子势阱层,AlyGa1-yN为极化调控层, AlzGa1-zN 为量子势垒层,其中0≤x<z<y≤1。

2.根据权利要求1所述的含极化调控层的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:所述衬底为Al2O3、GaN、AlN、Si中的任意一种。

3.根据权利要求1所述的含极化调控层的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:所述缓冲层的厚度为0.01 µm至10 µm。

4.根据权利要求1所述的含极化调控层的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:所述成核层的厚度为0.01 µm至0.5 µm。

5.根据权利要求1所述的含极化调控层的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:所述下电极接触层的n型掺杂浓度在1×1017 cm-3至5×1019 cm-3之间,厚度为0.1 µm至2 µm。

6.根据权利要求1所述的含极化调控层的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:所述上电极接触层n型掺杂浓度在1×1017 cm-3至5×1019 cm-3之间,厚度为0.05 µm至0.5 µm。

7.根据权利要求1所述的含极化调控层的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:所述量子势阱层的掺杂浓度在5×1017cm-3至5×1019 cm-3之间。

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