[实用新型]一种导模法蓝宝石晶片检验平台有效
申请号: | 201721102259.2 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN207336379U | 公开(公告)日: | 2018-05-08 |
发明(设计)人: | 季礼明;张振志;李国平;韦大勇;陈海兵;张万林;桂贤军 | 申请(专利权)人: | 江西东海蓝玉光电科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/87 | 分类号: | G01N21/87;G01N21/88 |
代理公司: | 南昌恒桥知识产权代理事务所(普通合伙) 36125 | 代理人: | 杨志宇 |
地址: | 330095 江西省南昌*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 导模法 蓝宝石 晶片 检验 平台 | ||
本实用新型公开了一种导模法蓝宝石晶片检验平台。其中:述的凹形基座的上端面上开设有一个凹槽;所述的凹槽的截面呈等腰梯形;所述的凹槽底部的两个内角均为60度,本实用新型的优点在于:结构简单,易于操作。
技术领域
本实用新型涉及蓝宝石应用材料的加工检测领域,特别是涉及一种导模法蓝宝石晶片检验平台。
背景技术
蓝宝石(Sapphire)是一种氧化铝才(α-Al2O3)的单晶,又称为刚玉。蓝宝石晶体具有优异的光学性能、机械性能和化学稳定性,强度高、硬度大、耐冲刷,可在接近2000℃高温的恶劣条件下工作,因而被广泛的应用于红外军事装置、卫星空间技术、高强度激光的窗口材料。
目前主流的蓝宝石长晶方法包括:泡生法、导模法、热交换法、提法法、坩埚下降法、水平区熔法等;其中导模法具有生长时间短、耗电量低、可定向/定形生长、晶体加工简单等优势,可以预测导模法将逐渐取代泡生法成为蓝宝石晶体主流生长方式。目前,只有俄罗斯、美国和日本等少数国家掌握此技术,同时国外进口装备存在产品一致性差、人工依赖性高、交货周期长、价格昂贵等问题,因此制造拥有自主知识产权的导模法长晶检测装备及长晶技术刻不容缓。
我国对蓝宝石晶体导模法生长装备和长晶工艺的研究起步较晚,国内目前尚没有成熟的多片导模法长晶设备及长晶工艺,导模法蓝宝石晶片配套专用加工检测设备存在空白;在产品方面,在蓝宝石LED衬底片、手机屏、国防用导弹整流罩以及航空航天用大尺寸蓝宝石面板长期依赖进口,因此我们研发蓝宝石导模法长晶检测装备及多片长晶工艺刻不容缓,也是填补国内行业空白。
由于蓝宝石的超高硬度,其成品加工成本高、耗时长,加工难度大,加工成本已经成为影响蓝宝石相关产品市场应用的主要因素之一;鉴于此种情况,选择合适的加工工艺,合适的设备及夹治具,对于提高蓝宝石晶片加工成品率、降低加工成本具有重要意义。
发明内容
本实用新型要解决的任务是提供一种导模法蓝宝石晶片检验平台,使得达到实现高效率和高准确率的选料的目的。
为了解决上述问题,本实用新型是通过以下技术方案实现的:
一种导模法蓝宝石晶片检验平台,包括:凹形基座、凹槽、LED灯带、待检区平台;其中:所述的凹形基座的上端面上开设有一个凹槽;所述的凹槽的截面呈等腰梯形;所述的凹槽底部的两个内角均为60度;所述的凹槽两侧的内壁斜边上分别固定的安装有一条LED灯带;所述的凹槽的底部放置有一块待检区平台;所述的待检区平台为黑色绒布包裹的条形玻璃。
一种导模法蓝宝石晶片检验平台,其中:所述的两条LED灯带均内嵌在凹槽两侧的内壁斜边上。
本实用新型的优点在于:结构简单,通过设置凹槽与led灯带能够方便清晰地观察晶片内部的缺陷(气泡、多晶、云雾、生长纹等)种类及分布,实现高效率和高准确率的选料,避免含有缺陷的晶片流入下游加工阶段,造成不必要的加工成本浪费,提高产品加工效率。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
附图说明:凹形基座1、凹槽2、LED灯带3、待检区平台4。
具体实施方式
实施例1、 一种导模法蓝宝石晶片检验平台,包括:凹形基座1、凹槽2、LED灯带3、待检区平台4;其中:所述的凹形基座1的上端面上开设有一个凹槽2;所述的凹槽2的截面呈等腰梯形;所述的凹槽2底部的两个内角均为60度;所述的凹槽2两侧的内壁斜边上分别固定的安装有一条LED灯带3;所述的凹槽2的底部放置有一块待检区平台4;所述的待检区平台4为黑色绒布包裹的条形玻璃。
实施例2、 一种导模法蓝宝石晶片检验平台,其中:所述的两条LED灯带3均内嵌在凹槽2两侧的内壁斜边上。其余同实施例1。
工作原理:将待检测物料放入凹槽2内的待检区平台4上;开启两条LED灯带3,通过斜射光线实现晶体的检测;设置的待检区平台4可以是条形玻璃或者钢板;设置的黑色绒布提供晶片检测所需的黑色消光背底,同时防止了材料磕碰;在所述凹形基座1的外表面还包有铝合金,保持凹形基座1外表面的整洁,防止待检测物料被弄脏,影响观测,同时设置的待检区平台4的底面与凹槽2的底面之间安装有压力传感器,用过显示装置观测压力传感器的压力数据,实现同步检测待检物料的质量大小。
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