[实用新型]一种液位计以及结晶器

说明书

技术领域

本实用新型涉及结晶器技术领域，尤其是涉及一种液位计以及结晶器。

背景技术

结晶器是用于结晶操作的设备，现有技术中的结晶器类型很多，例如按照溶液获得过饱和状态的方法可分蒸发结晶器和冷却结晶器，或者按照流动方式可分母液循环结晶器和晶浆(即母液和晶体的混合物)循环结晶器，又例如按照操作方式可分连续结晶器和间歇结晶器。

拿蒸发结晶器举例，在蒸发结晶器的蒸发结晶过程当中，一般会采用液位计来获知结晶器内盐液液面的高度，进而对蒸发结晶的过程进行掌控。

但是，现有的液位计在经过长时间的使用之后会出现精度降低的问题，就是说当长时间使用后现有的液位计在测量盐液液面的时候会出现较大的偏差，这样就会严重影响蒸发系统工艺。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种液位计以及结晶器，以解决现有技术中存在的液位计精度降低，对结晶器内的盐液液面进行测量时发生较大偏差的技术问题。

针对上述发生的技术问题，在经过研究以后，发现现有技术中的液位计发生精度降低的问题主要是因为在蒸发结晶的过程中，液位计的膜片上容易产生结晶，所以就会对膜片的感应压力的灵敏度造成影响，进而也就会造成液位计的精度降低。

具体的，由于现有技术中的液位计在设计的时候，是将用来感知盐液的膜片设置在液位计的底部位置的，而现有技术中的液位计在使用的时候，液位计的底部位置一般是通过法兰连接在正常盐液液位以下位置，也就是说，设置在液位计底部的膜片也是通过法兰连接在正常盐液液位以下位置的，而液位计的上部是连接在正常盐液液位的上部蒸汽的壳程上的，通过将液位计按照这种方式装配设置之后，液位计的膜片就可以感知结晶器内的浓盐液对膜片本身产生的压力，而盐液的液位变化对膜片产生的压力也随液位高度而改变的，所以通过膜片对浓盐液的压力变化，就能够推测并模拟出盐液液位位置。

但是，现有技术中的这种液位计的装配方式就会产生一个重要的问题，因为结晶器内部在进行蒸发结晶的过程中，采用的是高饱和浓盐液，因此在检测的液位计膜片上会很容易因为温差而产生结晶，一旦膜片上形成了结晶，位于膜片表层的结晶就会影响盐液液体对膜片的感应压力，从而影响对盐液液位的判断精准度，这种精准度的降低会造成对结晶器内部的盐液实际液位的测量产生较大偏差，会严重影响蒸发系统工艺。

所以，为了解决上述产生的技术问题，本申请提供了如下的技术方案：

本实用新型提供的一种液位计，包括旁通管、稀释管和膜片式料位仪；

所述旁通管的上部和下部分别设置有用于与结晶器连通的高位连接口和低位连接口；

所述稀释管与所述旁通管的底端连通，用于向所述旁通管内注入稀释液；

所述旁通管的下部形成有沉降区，所述膜片式料位仪设置在所述沉降区的上部。

在上述技术方案中，正常情况下旁通管与结晶器的内腔连通，所以结晶器内的高浓度盐液会进入旁通管内，而通过设置了稀释管，就可以利用所述稀释管向所述旁通管内定时的冲入定量的低浓度料液，利用低浓度料液将旁通管内的高浓度盐液进行置换，稀释高浓度盐液，并使旁通管内的低浓度液位与结晶器内高浓度盐液(饱和浓度盐液)的液位保持一致。

所以，在生产运行中从结晶器不断侵入到旁通管内的高浓度盐液就会沉积在旁通管底部细管内，在该处形成盐液的沉降区，从而使沉降区的上方维持着低浓度料液，这样就不会再膜片表面形成结晶了，也不影响膜片式料液仪的检测精度。

进一步的，在本实用新型的实施例中，所述稀释管呈U型；

所述稀释管的一端与所述旁通管连通，所述稀释管的另一端悬空。

进一步的，在本实用新型的实施例中，所述旁通管上还设置有磁翻板式料位仪；

所述磁翻板式料位仪与所述膜片式料位仪对应设置。

进一步的，在本实用新型的实施例中，所述旁通管上还设置有多个观察孔；

多个所述观察孔沿所述旁通管的轴向均匀设置，用于观察旁通管内的液位。

进一步的，在本实用新型的实施例中，所述旁通管上部的直径大于下部的直径。

进一步的，在本实用新型的实施例中，所述旁通管的上部直径为80mm，所述旁通管的下部直径为60mm。

进一步的，在本实用新型的实施例中，所述稀释管与所述旁通管的连接处设置有第一控制阀门；

所述旁通管通过所述第一控制阀门与结晶器的内腔连通或闭合。

进一步的，在本实用新型的实施例中，所述稀释管上设置有第二控制阀门；