[实用新型]PID试验环境箱

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种PID试验环境箱。

背景技术

存在于晶体硅组件中的电路与其接地金属边框之间的高电压，会造成组件的光伏性能的持续衰减。造成此类衰减的机理是多方面的，例如在上述高电压的作用下，组件电池的封装材料和组件上表面层及下表面层的材料中出现的离子迁移现象；电池中出现的热载流子现象；电荷的分配削减了电池的活性层；相关的电路被腐蚀等等。这些引起衰减的机理被称之为电位诱发衰减。此现象大多数最容易在潮湿的条件下发生。大多数的环境箱只允许组件水平放置其中，而且组件制造商为了提高测试的效率，往往多个组件叠在一起进行PID测试，多个组件叠加在一起易相互影响，影响数据的准确性。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种PID试验环境箱，多个组件在该环境箱内有序排列，互不影响。

为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：一种PID试验环境箱，包括环境箱本体和系统电源，所述环境箱本体内设置有绝缘隔热支架，该绝缘隔热支架的具有多个竖直放置槽，可同时竖直放置多个待测组件；还包括控制器、数据采集系统、以及向数据采集系统传输数据的湿度采集模块和温度采集模块，所述湿度采集模块设置在环境箱本体的侧壁上，所述温度采集模块用于贴在组件背面，控制器根据数据采集系统反馈的温湿度数据维持温湿度恒定；所述环境箱本体上还设置有进风口和出风口。

进一步，所述系统电源位于环境箱本体外，所述环境箱本体的侧壁上开有引线孔，系统电源的引线穿过引线孔与组件的边框、接线盒引线电连接。

采用了上述技术方案后，本实用新型在环境箱本体内设置具有竖直放置槽的绝缘隔热支架，可同时放置多个组件，且各组件之间相互独立，不存在互相影响，既提高的测试效率，又保证了数据的准备性；本实用新型由控制器控制环境箱本体内的温湿度，并以湿度采集模块和温度采集模块的数据为反馈，维持温湿度恒定。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步详细的说明。

如图1所示，一种PID试验环境箱，包括环境箱本体1和系统电源3，所述环境箱本体1内设置有绝缘隔热支架4，该绝缘隔热支架4的具有多个竖直放置槽，可同时竖直放置多个待测组件5；还包括控制器、数据采集系统2、以及向数据采集系统2传输数据的湿度采集模块7和温度采集模块8，所述湿度采集模块7设置在环境箱本体1的侧壁上，所述温度采集模块8用于贴在组件5背面，控制器根据数据采集系统2反馈的温湿度数据维持温湿度恒定；所述环境箱本体1上还设置有进风口和出风口。

可选地，如图1所示，所述系统电源3位于环境箱本体1外，所述环境箱本体1的侧壁上开有引线孔，系统电源3的引线穿过引线孔与组件5的边框、接线盒引线6电连接。

本实用新型在环境箱本体内设置具有竖直放置槽的绝缘隔热支架，可同时放置多个组件，且各组件之间相互独立，不存在互相影响，既提高的测试效率，又保证了数据的准备性；本实用新型由控制器控制环境箱本体内的温湿度，并以湿度采集模块和温度采集模块的数据为反馈，维持温湿度恒定。

以上所述的具体实施例，对本实用新型解决的技术问题、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。