[实用新型]一种基于缺陷模式的故障检测测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及缺陷检测领域，尤其是一种基于缺陷模式的故障检测测试系统。

背景技术

经过传统软件测试后，残留在软件中的缺陷一般都是小概率、开发人员疏忽造成的。我们对8类软件故障的测试实践表明，经过严格的传统软件测试，残留在软件中的故障密度为1～2个故障/10KLOC，而没有经过严格测试的软件，其故障密度一般在5～10个故障/10KLOC，而这些故障一旦发生，往往会导致系统崩溃，缺陷模式容易对系统产生故障和漏洞等问题。在识别技术中，系统缺陷容易导致识别功能下降等问题。

因此，对于上述问题有必要提出一种基于缺陷模式的故障检测测试系统。

实用新型内容

本实用新型目的是克服了现有技术中的不足，提供了一种基于缺陷模式的故障检测测试系统。

为了解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现：

一种基于缺陷模式的故障检测测试系统，包括故障缺陷检测仪和控制器，所述故障缺陷检测仪包括故障检测模块、显示模块、信号采集模块、信号处理模块、传感器模块和视频摄像模块，所述故障检测模块、显示模块、信号采集模块、信号处理模块、传感器模块和视频摄像模块均与控制器连接，所述信号处理模块包括无线通信模块和有线通信模块，所述传感器模块包括温度传感器、湿度传感器和尺寸测量传感器。

优选地，所述故障检测模块包括检测电路，所述检测电路包括变压器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、桥式二极管、电感、单片机和二极管。

优选地，所述单片机的第一端脚接地，所述单片机的第二端脚与单片机的第七端脚之间分别连接有二极管和第三电阻，所述第三电阻还通过第三电容分别连接桥式二极管的a端脚和第一电容的一端，所述单片机的第三端脚通过第五电容连接电感的一端，所述单片机的第五端脚通过第四电容连接电感的另一端。

优选地，所述单片机的第四端脚和第八端脚均与第一电阻的一端、第二电容一端和第四电阻一端，所述第一电阻通过第二电阻接单片机的第七端脚，所述第二电容的另一端接地，所述第四电阻的另一端接地桥式二极管的b端。

优选地，所述第一电容的另一端桥式二极管的b端，所述桥式二极管的c端和d端分别接变压器的两端，所述单片机的第六端脚接单片机的第二端脚。

本实用新型的有益效果是：采用了缺陷检测模块，可以对系统故障中缺陷、漏洞进行反馈，修复使得故障系统中故障检测功能更加完善，结构简单，具有很强的实用性。

以下将结合附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果作进一步说明，以充分地了解本实用新型的目的、特征和效果。

附图说明

图1是本实用新型的系统结构示意图；

图2是本实用新型实施例的检测电路电路图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明，但是本实用新型可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。

如图1并结合图2所示,一种基于缺陷模式的故障检测测试系统，包括故障缺陷检测仪和控制器，所述故障缺陷检测仪包括故障检测模块、显示模块、信号采集模块、信号处理模块、传感器模块和视频摄像模块，所述故障检测模块、显示模块、信号采集模块、信号处理模块、传感器模块和视频摄像模块均与控制器连接，所述信号处理模块包括无线通信模块和有线通信模块，所述传感器模块包括温度传感器、湿度传感器和尺寸测量传感器。

进一步的，所述故障检测模块包括检测电路，所述检测电路包括变压器B、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5、桥式二极管D0、电感L、单片机U0和二极管D1，所述单片机U0的第一端脚接地，所述单片机U0的第二端脚与单片机U0的第七端脚之间分别连接有二极管D1和第三电阻R3，所述第三电阻R3还通过第三电容C3分别连接桥式二极管D0的a端脚和第一电容C1的一端，所述单片机U0的第三端脚通过第五电容C5连接电感L的一端，所述单片机U0的第五端脚通过第四电容C4连接电感的另一端，所述单片机U0的第四端脚和第八端脚均与第一电阻R1的一端、第二电容C2一端和第四电阻R4一端，所述第一电阻R1通过第二电阻R2接单片机U0的第七端脚，所述第二电容C2的另一端接地，所述第四电阻R4的另一端接地桥式二极管D0的b端，所述第一电容C1的另一端桥式二极管D0的b端，所述桥式二极管D0的c端和d端分别接变压器的两端，所述单片机U0的第六端脚接单片机U0的第二端脚。