[实用新型]一种水泥压力试验机的清洁装置有效
申请号: | 201721128476.9 | 申请日: | 2017-09-05 |
公开(公告)号: | CN207095967U | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | 谢文浩;谢斌;李海伦 | 申请(专利权)人: | 深圳市晋荣建材有限公司 |
主分类号: | G01N3/02 | 分类号: | G01N3/02;B08B1/00 |
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地址: | 518107 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 水泥 压力 试验 清洁 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及压力试验机技术领域,更具体地说,它涉及一种水泥压力试验机的清洁装置。
背景技术
水泥压力试验机的试块一般通过正方体形状的试块模具制成,然后用于对水泥试块进行压力检测,将水泥试块放在操作台上,通过上压具向下压住水泥试块,并不断增大向水泥试块施加的压力,来检测水泥试块的抗压强度等性能。
现有的水泥压力试验机,如图1所示,包括机本体1和控制台2,机本体1的底部设有底座3,底座3上设有下压盘5,下压盘5的正上方设有上压盘4,上压盘4一体成型于螺杆18的一端,螺杆18的远离上压盘4的一端固定于上平台17。
上述现有技术存在的不足是:现有的技术中的水泥压力试验机在进行水泥砂浆试件的抗压强度测试时,质量较差的水泥试块碎裂之后产生的水泥碎块残留于下压盘上不方便清理。
实用新型内容
针对上述现有技术的不足,本实用新型的目的是提供一种水泥压力试验机的清洁装置,具有对下压盘上的碎块更好进行清理的优点。
本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种水泥压力试验机的清洁装置,包括机本体和控制台,所述机本体包括底座和上压盘,所述底座上设有下压盘,所述底座上设有推板以及驱动推板沿水平方向运动的驱动部,所述推板的下表面与所述下压盘的上表面相抵;所述底座远离驱动部的一侧设有收集部。
通过采用上述技术方案,试块被压碎后将散落在下压盘上,驱动部驱动推板进行水平方向运动将对下压盘上的碎块进行清理,并将碎裂的试块通过推板清理至收集部,方便操作人员对下压盘进行清理,便于重复在压力试验机上做试验。
优选的,所述驱动部包括设于底座上的气缸以及控制气缸启停的点触开关;所述推板固定于气缸的输出轴上。
通过采用上述技术方案,按压点触开关就能够气缸启停,气缸的每一次启停都能够使推板进行一次来回的运动,从而对下压盘上的碎块进行清理,同时,气缸可控的工作,避免气缸一直推到推板在下压盘的上表面来回运动,影响压力试验机的工作。
优选的,所述底座上设有靠近或远离上压盘的滑块,所述滑块朝向上压盘的侧面设有楔形块,所述点触开关设于所述楔形块朝下的表面;所述滑块与所述底座之间设有弹簧,且弹簧自然情况下,所述滑块与上压盘的侧面可相抵。
通过采用上述技术方案,上压盘在上下运动的过程中,将抵触楔形块使滑块远离上压盘,并使与滑块连接的弹簧被压缩;当上压盘与楔形块分离时,滑块将在弹簧的作用下回复原始状态;当上压盘向上运动的过程中,上压盘的侧面将与点触开关相抵并按压点触开关,从而使气缸带动推板对下压盘上的碎块进行清理;当上压盘向下运动过程中,上压盘的侧面抵触楔形块向远离上压盘的方向运动,位于楔形块下表面的点触开关将不会与上压盘接触,从而减小上压盘下压的过程中,推板的来回运动将下压盘上的试块推下的情况。
优选的,所述底座的上表面设置有滑槽,所述滑块滑动连接于滑槽内。
通过采用上述技术方案,滑槽能够对滑块进行导向作用,减小滑块在移动的过程中出现偏移的情况,使得上压盘能够更好的与点触开关和楔形块相抵。
优选的,所述下压盘位于推板两端的侧面均设有挡板。
通过采用上述技术方案,挡板能够对下压盘上的碎裂试块进行限制,减小推板在清理下压盘上碎块的过程中,部分碎块从推板的两侧滑落至底座上的情况,从而使碎块的清理效果更佳。
优选的,所述推板上设有与下压盘的上表面相抵的刷毛。
通过采用上述技术方案,刷毛对清理下压盘上表面的碎块残渣效果更好。
优选的,所述收集部包括倾斜的导向槽以及设于导向槽底部的收纳箱,所述导向槽和收纳箱可拆卸连接。
通过采用上述技术方案,推板将碎块推送至导向槽内,将在导向槽的作用下,向收纳箱内滑移,从而便于将碎块集中在收纳箱中进行统一处理;导向槽和收纳箱可拆卸连接,在收纳箱内的碎块收集满后,将收纳箱拆卸下来进行清理。
优选的,所述收纳箱的外壁设有卡块,所述导向槽的底部设置有与卡块卡接配合的卡槽。
通过采用上述技术方案,卡块与卡槽卡接配合,使得收纳箱与导向槽的拆卸更简单方便。
综上所述,本实用新型具有以下有益效果:试块被压碎后将散落在下压盘上,驱动部驱动推板进行水平方向运动将对下压盘上的碎块进行清理,并将碎裂的试块通过推板清理至收集部,方便操作人员对下压盘进行清理,便于重复在压力试验机上做试验。
附图说明
图1为现有技术的结构示意图;
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