[实用新型]一种电子元器件测试装置有效
| 申请号： | 201721146064.8 | 申请日： | 2017-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN207263797U | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 张勇;夏欢;王耀辉 | 申请（专利权）人： | 金动力智能科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华新区大浪*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 测试 装置 | ||
1.一种电子元器件测试装置，其特征在于：包括测试底座(1)、校正调节螺栓(2)、升降座(3)和测试部(4)，所述升降座(3)可上下滑动设置在测试底座(1)上，所述校正调节螺栓(2)穿过升降座(3)可转动设置在测试底座(1)上，所述升降座(3)上设置有用于接触测试工件的测试部(4)，所述升降座(3)包括升降板(31)和升降动力板(32)，所述升降板(31)设置在测试底座(1)侧部的导轨上，所述升降动力板(32)水平固设在升降板(31)上端，所述校正调节螺栓(2)穿过升降动力板(32)上的螺纹孔。
2.如权利要求1所述的一种电子元器件测试装置，其特征在于：所述测试部(4)包括第一安装座(41)、固定限位螺栓(42)、隔板(43)、第一测试铜针(44)和回位弹簧(45)，所述第一安装座(41)的数量为两个，两个第一安装座(41)通过固定限位螺栓(42)连接，两个第一安装座(41)上分别设置有2个导向槽，所述第一测试铜针(44)设置在导向槽中，所述第一安装座(41)之间设置有隔板(43)，所述隔板(43)将第一测试铜针(44)分成左右各两个，所述固定限位螺栓(42)穿过第一测试铜针(44)上的滑移孔，所述滑移孔内设置有回位弹簧(45)，所述回位弹簧(45)上端压在滑移孔上侧，所述回位弹簧(45)下端顶在固定限位螺栓(42)上。
3.如权利要求1所述的一种电子元器件测试装置，其特征在于：所述测试部(4)包括第二安装座(46)、测试压板(47)、第二测试铜针(48)和回位套筒(49)，所述第二安装座(46)下部固设有四个回位套筒(49)，所述第二测试铜针(48)设置在回位套筒(49)中，所述回位套筒(49)与第二测试铜针(48)之间设置有将第二测试铜针(48)向上顶的回位弹簧(45)，所述第二安装座(46)上部设置有用于固定测试样品的测试压板(47)。
4.如权利要求1至3中任一项所述的一种电子元器件测试装置，其特征在于：所述校正调节螺栓(2)包括螺柱(21)和转筒(22)，所述转筒(22)固设在螺柱(21)的上端，所述转筒(22)的轴线与螺柱(21)的轴线重合，所述转筒(22)的弧面上设置有旋转孔(221)。
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