[实用新型]一种用于中子静高压实验的密封腔有效
申请号: | 201721152676.8 | 申请日: | 2017-09-11 |
公开(公告)号: | CN207163939U | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 谢雷;陈喜平;房雷鸣;夏元华;李昊;孙光爱 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
主分类号: | G01N23/207 | 分类号: | G01N23/207 |
代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心51210 | 代理人: | 翟长明,韩志英 |
地址: | 621999 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 中子 高压 实验 密封 | ||
1.一种用于静高压中子衍射的密封腔,其特征在于:所述密封腔包括密封腔盖(1)、密封垫圈(2)、卡箍(3)和密封腔底(4);密封腔盖(1)包括密封腔顶板(11)、波纹管(12)和上法兰口(13),密封腔顶板(11)和上法兰口(13)分别与波纹管(12)的上下端连接,上法兰口(13)为密封腔盖(1)的开口端,密封腔顶板(11)为密封腔盖(1)的封闭端;密封腔底(4)包括下法兰口(41)、中子窗(42)、密封腔定位孔(43)和高压腔卡口(44);下法兰口(41)处于密封腔底(4)上端开口处,中子窗口位于下法兰口(41)下方,密封腔定位孔(43)位于密封腔底(4)的底部中心处,高压腔卡口(44)位于密封腔底(4)的底部。
2.根据权利要求1所述的用于静高压中子衍射的密封腔,其特征在于:所述的密封垫圈(2)位于上法兰口(13)和下法兰口(41)之间。
3.根据权利要求1所述的用于静高压中子衍射的密封腔,其特征在于:所述的卡箍(3)为法兰卡箍。
4.根据权利要求1所述的用于静高压中子衍射的密封腔,其特征在于:所述的密封腔盖(1)为圆柱形。
5.根据权利要求1所述的用于静高压中子衍射的密封腔,其特征在于:密封腔定位孔(43)位于密封腔底(4)的圆心。
6.根据权利要求1所述的用于静高压中子衍射的密封腔,其特征在于:高压腔卡口(44)位于密封腔底(4)的圆心。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院核物理与化学研究所,未经中国工程物理研究院核物理与化学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201721152676.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种块体样品X射线衍射的夹紧装置
- 下一篇:一种固定效果好的扫描电镜