[实用新型]集成电路与用于测试模数转换器电路的内置自测电路有效
申请号: | 201721165015.9 | 申请日: | 2017-09-12 |
公开(公告)号: | CN207677711U | 公开(公告)日: | 2018-07-31 |
发明(设计)人: | A·巴尔;C·德布纳斯;N·巴尔加瓦 | 申请(专利权)人: | 意法半导体国际有限公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10;H03M3/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;张昊 |
地址: | 荷兰阿*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二进制数据流 测试模 内置 模拟测试信号 数字测试信号 转换器电路 滤波电路 数字结果 自测电路 导出 输出 集成电路 电路 转换器 接收输入信号 误差信号分量 信号分量 调制器 多阶 滤波 自测 隔离 施加 响应 引入 | ||
1.一种集成电路,其特征在于,包括:
模拟电路域;
数字电路域;
模数转换器ADC电路,具有耦合到所述模拟电路域的输入和耦合到所述数字电路域的输出;和
内置自测BIST电路,被配置为测试所述ADC电路的操作,所述BIST电路包括:
多阶三角积分ΣΔ调制器,具有被配置为接收输入信号的输入、被配置为生成从所述输入信号导出的模拟测试信号的第一输出和被配置为生成二进制数据流的第二输出,其中在测试模式操作期间,所述模拟测试信号被施加到所述ADC电路的输入;和
数字重组和滤波电路,具有被配置为接收所述二进制数据流的第一输入和被配置为响应于所述模拟测试信号接收从所述ADC电路输出的数字测试信号的第二输入,所述数字重组和滤波电路被配置为对所述二进制数据流和所述数字测试信号进行组合和滤波以生成数字结果信号,所述数字结果信号具有从所述输入信号导出的第一信号分量和从由所述ADC电路的操作引入的误差导出的第二信号分量。
2.根据权利要求1所述的集成电路,其特征在于,所述多阶ΣΔ调制器是二阶ΣΔ调制器。
3.根据权利要求1所述的集成电路,其特征在于,所述多阶ΣΔ调制器是多级噪声整形MASHΣΔ调制器。
4.根据权利要求1所述的集成电路,其特征在于,所述多阶ΣΔ调制器包括被配置为量化所述模拟测试信号以生成所述二进制数据流的量化器电路。
5.根据权利要求4所述的集成电路,其特征在于,所述二进制数据流包括通过所述量化器的操作引入的误差,并且其中所述数字重组和滤波电路被配置为消除由所述量化器的操作引入的所述误差,使其不出现在所述数字结果信号中。
6.根据权利要求1所述的集成电路,其特征在于,所述数字重组和滤波电路包括:
第一数字求和电路,被配置为从所述数字测试信号导出的数字信号中减去所述二进制数据流以生成第一数字信号;
数字滤波电路,被配置为对所述第一数字信号进行滤波以生成经滤波的数字信号;和
第二数字求和电路,被配置为将所述经滤波的数字信号加到所述二进制数据流以生成第二数字信号。
7.根据权利要求6所述的集成电路,其特征在于,所述数字重组和滤波电路还包括被配置为抽取所述第二数字信号以生成所述数字结果信号的抽取电路。
8.根据权利要求1所述的集成电路,其特征在于,还包括相关电路,其被配置为将所述数字结果信号与参考信号相关,以获取结果,该结果的值受所述第二信号分量影响并且指示由所述ADC电路的操作引入的误差。
9.根据权利要求8所述的集成电路,其特征在于,所述参考信号是对应于所述输入信号的数字信号。
10.根据权利要求1所述的集成电路,其特征在于,所述ADC电路是奈奎斯特速率ADC电路。
11.一种用于测试模数转换器电路的内置自测电路,其特征在于,包括:
多阶三角积分ΣΔ调制器,具有被配置为接收输入信号的输入、被配置为生成从所述输入信号导出的模拟测试信号的第一输出和被配置为生成二进制数据流的第二输出,其中在测试模式操作期间,所述模拟测试信号被施加到所述模数转换器电路的输入;和
数字重组和滤波电路,具有被配置为接收所述二进制数据流的第一输入和被配置为响应于所述模拟测试信号接收从所述模数转换器电路输出的数字测试信号的第二输入,所述数字重组和滤波电路被配置为对所述二进制数据流和所述数字测试信号进行组合和滤波以生成数字结果信号,所述数字结果信号具有从所述输入信号导出的第一信号分量和从由所述模数转换器电路的操作引入的误差导出的第二信号分量。
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