[实用新型]SIM卡批量检测装置有效

专利信息
申请号: 201721179056.3 申请日: 2017-09-14
公开(公告)号: CN207219048U 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 卢旭朝;金心宇;何锡明;丁慧慧;邵全宇;吴旭红 申请(专利权)人: 杭州百富电子技术有限公司
主分类号: H04W8/18 分类号: H04W8/18;H04W24/00
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司33212 代理人: 金祺
地址: 310000 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: sim 批量 检测 装置
【权利要求书】:

1.SIM卡批量检测装置,其特征在于:包括供电模块(1)、微控制模块(2)、无线通讯模块(3)、SIM卡接口模块(4)以及SIM卡切换控制模块(5);所述无线通讯模块(3)与至少两个SIM卡接口模块(4)相连;

所述微控制模块(2)采用STM32F207VET6芯片U1;所述STM32F207VET6芯片U1的电源输入端与供电模块(1)相连;所述每个SIM卡接口模块(4)均与STM32F207VET6芯片U1的IO口一一对应相连;

所述无线通讯模块(3)为G620通讯模块U2;所述G620通讯模块U2的POWER_ON、RESET_N、TXD_N和RXD_N分别与STM32F207VET6芯片U1的PA8、PC9、TXD和RXD一一对应的连接;所述G620通讯模块U2的SIM_RES、SIM_VCC和SIM_DATE均与SIM卡接口模块(4)相连;所述G620通讯模块U2的BATT与供电模块(1)相连;

所述SIM卡切换控制模块(5)为SN74LV4051APW芯片U4;所述SN74LV4051APW芯片U4的VCC与供电模块(1)相连,所述SN74LV4051APW芯片U4的A、B和C分别与STM32F207VET6芯片U1的PD13、PD14和PD15一一对应的相连;所述SN74LV4051APW芯片U4的COM与G620通讯模块U2的SIM_CLK相连;所述每个SIM卡接口模块(4)均与SN74LV4051APW芯片U4的输出端相连一一对应的相连。

2.根据权利要求1所述的SIM卡批量检测装置,其特征在于:

所述STM32F207VET6芯片U1连有G620通讯模块U2数量为1-4个;所述每个G620通讯模块U2连有至少2个SIM卡接口模块(4)。

3.根据权利要求1或2所述的SIM卡批量检测装置,其特征在于:

所述SIM卡接口模块(4)均为SIM卡卡座U3;

所述每个SIM卡卡座U3的RES、VCC和IO分别与对应的G620通讯模块U2的SIM_RES、SIM_VCC和SIM_DATE一一对应的相连;

所述每个SIM卡卡座U3的CD均与STM32F207VET6芯片U1的IO一一对应的相连;

所述每个SIM卡卡座U3的CLK均与SN74LV4051APW芯片U4的输出端一一对应的相连。

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