[实用新型]片式电容参数测试夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试夹具，尤其涉及片式电容参数测试夹具。

背景技术

片式电容作为基础电子元器件现已广泛的被应用，而电容需要进行参数测试，筛选出不合格的产品，在测试时，一般在耐压测试仪的两个测试端连接测试探针，使探针分别与片式电容的两极相接触，然后调整耐压测试仪的参数开始测试，由于无法对片式电容进行固定，利用这种测试方法通常需要两个测试人员，一人操作探针，另外一人操作耐压测试仪，极为不方便，而且在对电容进行耐压测试时，不合格的电容有时会发生爆裂，容易对测试人员造成人身伤害。

实用新型内容

本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供片式电容参数测试夹具。

本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的：

一种片式电容参数测试夹具，包括，

基座，所述基座包括拼接呈L型结构的横板和竖板；

横滑杆，两个所述横滑杆水平平行设置，且所述横滑杆的第一端与所述竖板的上端固定连接；

竖滑杆，两个所述竖滑杆竖直平行设置，且所述竖滑杆的下端与所述竖板的上端面固定连接；

横夹块，所述横夹块上设置有水平的与所述横滑杆对应的横滑孔，所述横夹块通过所述横滑孔与所述横滑杆可滑动连接；

横夹板，所述横夹板的第一端设置有与所述竖滑杆对应的竖滑孔，所述横夹板通过所述竖滑孔与所述竖滑杆可滑动连接；

锁定装置，所述锁定装置的两端分别与所述竖板的上端和所述横夹块的第一端固定连接。

具体地，所述锁定装置包括双头螺杆和V型连杆结构，所述V型连杆结构包括螺母和两个连接杆，两个所述连接杆的第一端分别与所述螺母的外侧面可转动连接，两个所述连接杆的第二端分别与所述横夹块和所述竖板可转动连接，两个所述V型连杆结构的螺母分别与所述双头螺杆的两端螺纹连接。

优选地，两个所述连接杆沿所述螺母的中轴线对称设置，所述双头螺杆水平设置，两个所述V型连杆结构沿两个所述竖滑杆对称设置。

具体地，所述双头螺杆两端的螺纹旋向相反。

具体地，所述横滑杆、所述横夹块和所述横夹板均设置在所述横板的正上方。

本实用新型的有益效果在于：

本实用新型片式电容参数测试夹具通过数量可调的横夹块控制需要固定的片式电容的数量，通过可上下移动的横夹板与横夹块配合夹持片式电容，从而实现了对片式电容的固定，便于对其进行参数测试。

附图说明

图1是本实用新型所述片式电容参数测试夹具的主视图；

图2是本实用新型所述片式电容参数测试夹具的侧视图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明：

如图1和图2所示，本实用新型一种片式电容参数测试夹具，包括基座1、横滑杆2、竖滑杆4、横夹块3、横夹板5和锁定装置，基座1包括拼接呈L型结构的横板和竖板；两个横滑杆2水平平行设置，且横滑杆2的第一端与竖板的上端固定连接；两个竖滑杆4竖直平行设置，且竖滑杆4的下端与竖板的上端面固定连接；横夹块3上设置有水平的与横滑杆2对应的横滑孔，横夹块3通过横滑孔与横滑杆2可滑动连接；横夹板5的第一端设置有与竖滑杆4对应的竖滑孔，横夹板5通过竖滑孔与竖滑杆4可滑动连接；锁定装置的两端分别与竖板的上端和横夹块3的第一端固定连接，横滑杆2、横夹块3和横夹板5均设置在横板的正上方。

锁定装置包括双头螺杆8和V型连杆结构，V型连杆结构包括螺母7和两个连接杆6，两个连接杆6的第一端分别与螺母7的外侧面可转动连接，两个连接杆6的第二端分别与横夹块3和竖板可转动连接，两个V型连杆结构的螺母7分别与双头螺杆8的两端螺纹连接，两个连接杆6沿螺母7的中轴线对称设置，双头螺杆8水平设置，两个V型连杆结构沿两个竖滑杆4对称设置，双头螺杆8两端的螺纹旋向相反。

本实用新型片式电容参数测试夹具的工作原理如下：

根据需要固定的片式电容的数量，选择合适数量的横夹块3，然后将横夹块3通过横滑孔将其固定至横滑杆2上，然后将片式电容置于横夹块3上，通过转动双头螺杆8，使得与双头螺杆8连接的螺母7沿双头螺杆8向外端滑动，从而使得横夹板5与横夹块3之间的距离缩小，将片式电容夹持。

测试完成后，反相旋动双头螺杆8，使横夹板5上，从而可以将片式电容从横夹块3上取下。

本实用新型的技术方案不限于上述具体实施例的限制，凡是根据本实用新型的技术方案做出的技术变形，均落入本实用新型的保护范围之内。