[实用新型]通用定位治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种基准调平装置，更具体地涉及通用定位治具。

背景技术

基准调平是所有产品测量的首要条件，实际操作中基准调平也是检测中最麻烦的一个环节，耗时较长。通常用百分表调平后，测量时还要依据实测基准孔的直径计算被测尺寸，还容易出现误差。

实用新型内容

为了解决所述现有技术的不足，本实用新型提供了一种可快速基准调平以孔为基准的通用定位治具。

本实用新型所要达到的技术效果通过以下方案实现：通用定位治具，所述通用定位治具用于以孔为基准的部件测量，包括基准座，在所述基座的侧面上设一治具轴，所述治具轴为可伸缩的圆锥台形，在所述治具轴的两侧、基准座的侧面上开设第一矩形凹槽和第二矩形凹槽，所述治具轴的轴心均在所述第一矩形凹槽的上端面形成的平面上与所述第二矩形凹槽的下端面形成的平面上，所述治具轴的周围、基准座内设有磁铁。

优选地，所述磁铁呈圆形阵列设在治具轴的周围。

优选地，所述磁铁的数量为8个。

优选地，所述磁铁为V型磁铁。

优选地，所述治具轴的最大直径为8mm。

本实用新型具有以下优点：

本实用新型的通用定位治具通过在基准座上设锥形可伸缩的治具轴，可基准调平大部分以孔为基准的部品，快捷方便，具有节约时间、降低成本的优点：

当两基准孔在一条直线上时，在所述治具轴的轴心位置处归零即可基准调平；

当两基准孔在同一个平面上、不在同一条直线上时，将其中一个通用定位治具下面垫付与两基准孔高度差相同的相块规即可实现基准调平；

当两基准孔在不同的基准面时，将两个通用定位治具分别定为基准孔即可。

附图说明

图1为本实用新型中通用定位治具的主视图；

图2为本实用新型中通用定位治具的侧视图

图3为本实用新型中通用定位治具的使用状态透视图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细的说明。

如图1和图2所示，本实用新型公开了一种通用定位治具，所述通用定位治具用于以孔为基准的部件6的测量，包括基准座1，在所述基准座1的侧面上设一治具轴2，所述治具轴2为可伸缩的圆锥台形，所述治具轴2的最大直径为8mm，可供直径小于等于8mm的不同大小的基准孔检测使用。

作为进一步改进，在所述治具轴2的两侧、基准座1的侧面上开设第一矩形凹槽3和第二矩形凹槽4，所述治具轴2的轴心均在所述第一矩形凹槽3的上端面形成的平面上与所述第二矩形凹槽4的下端面形成的平面上，以使所述第一矩形凹槽3的上端平面作为反调归零点和使所述第二矩形凹槽4的下端平面作为正调归零点。

作为进一步改进，在所述治具轴2的周围、基准座1内设有磁铁5，用以吸附待调装置。优选地，所述磁铁5呈圆形阵列设在治具轴2的周围；优选地，所述磁铁5的数量为8个；优选地，所述磁铁5为V型磁铁。

如图3所示，本实用新型的通用定位治具在实际使用时，当两基准孔61在一条直线上时，将两个通用定位治具的治具轴2分别穿入基准孔61内，所述磁铁5吸附部件6，在所述治具轴2的轴心位置处归零即可基准调平；当两基准孔61在同一个平面上、不在同一条直线上时，将其中一个通用定位治具下面垫付与两基准孔高度差相同的相块规即可实现基准调平；当两基准孔61在不同的基准面时，将两个通用定位治具分别定位基准孔61即可；当基准面由折弯面上的基准孔61构成时，可用治具轴2同时定位多个基准孔61，测量Z方向尺寸差实现基准调平。

本实用新型的通用定位治具的有益效果：治具轴2可直接将基准孔61定位，不用计算实测并计算基准孔61半径即可调零，可节省大量时间；而且使用范围广泛，以孔为基准的部品6基本都可使用，既快捷又方便；所述通用定位治具的成本低，可推广到各个区域使用。

节省时间、降低成本按实际计算证明，本实施例的通用定位治具投入使用后，基准调平的速度由原来的3分钟节省到现在的1分钟，测量时计算孔半径的时间又原来的1分钟(测量寸法越多，此项时间越多)减少到0分钟，同比共减少3分钟；检查每日共节省时间120min=2h。成本节约按投入成本：500元/个*2个=1000元，成本节约按2030元/月÷21.75天/月÷8h/天*2h/天=23.34元/天，12月/年*26天/月*23.34元/天=7282.08元/年，总的成本节约为7282.08元-1000元=6282.08元/年。

最后需要说明的是，以上实施例仅用以说明本发明实施例的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本发明实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解依然可以对本发明实施例的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本发明实施例技术方案的范围。