[实用新型]一种千分尺快速检定装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种检定装置，尤其涉及一种千分尺快速检定装置。

背景技术

作为常见的长度测量工具之一的千分尺，也叫做螺旋测微器，是由测砧、测微螺杆、尺架、锁紧装置、隔热装置、固定套筒、微分筒和测力装置构成。在使用过程中，利用千分尺的测砧和测杆去夹取待测的物体，在保证两端面与物体相接触的情况下，通过读取微分筒和固定套筒上的刻度数值，确定待测物体的长度数值。千分尺的准确性直接影响了待测物体的的长度数值，所以要对千分尺进行定期检定。

日常生活中，在使用千分尺前，要保证千分尺的准确性，即千分尺测砧和测杆两端面的距离要等于千分尺微分筒上的刻度数值。在传统的千分尺检定中，由于是纯人工检定，存在着较大的人为误差，装置的设计可以大大地减小人为误差数值。装置还可以把检定数值结果直接记录在千分尺信息管理系统。

申请号为201410840626.3的专利公开了一种千分尺检定系统，系统主要由千分尺检定台、定位机构、旋转装置、机器视觉装置和三维操作台组成。在系统中，利用千分尺的测砧和测杆去夹取标准量块。测砧和测杆的两端面与标准量块的端面相接触。此时，机器视觉装置采集千分尺刻线处示值面图像，利用图像算法求得刻度线数值，并与标准量块值进行比较，完成了整个检定过程。虽然系统完成整个检定过程，减小了人为误差，但该方法将标准量块的数值作为标准值，该标准值包含了标准量块自身的误差值。

发明内容

针对现有检定方法存在的不足，本发明的目的在于提供一种方便简单、高效率的千分尺快速检定装置。

为实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：一种千分尺快速检定装置，其特征在于，包括：

底座；

图像采集结构，设置在底座上，所述的图像采集结构用来采集千分尺测砧测杆的图像；

限位座，设置在底座上，用来保证千分尺的平行；

尺架支撑座，设置在底座上，所述的尺架支撑座用来支撑千分尺尺架；

压紧结构，设置在底座，所述的压紧结构用来固定千分尺尺架；

优选的，所述的图像采集结构包括：相机架，设置在底座，所述的相机架与底座呈垂直关系；工业相机，所述的工业相机设置在相机架上的一端，用来采集千分尺测砧测杆的图像。

附图说明

图1为本发明的一种结构示意图；

图2为图像采集结构示意图；

附图标记：1、底座；2、图像采集结构；21、相机架；22、工业相机；3、限位座；4、尺架支撑座；5、千分尺微分筒；6、千分尺尺架；7、压紧结构。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-2，本发明提供一种技术方案：一种千分尺快速检定装置，包括：底座1、图像采集结构2、限位座3、尺架支撑座4、压紧结构7。图像采集结构2，设置在底座1的一边，所述的图像采集结构2包括相机架21和工业相机22，相机架21的底面与底座1的上表面重合，工业相机22安装在相机架21的一头；限位座3，设置在底座1的上表面的中间位置，所述的限位座3与图像采集结构2相距一定的距离；尺架支撑座4，设置底座1的上表面，与限位座3的一面紧挨接触；压紧结构7，设置在底座1上表面的另一边，用来固定千分尺尺架6。

工作原理：首先，将待检的千分尺置于检定装置中，让千分尺的测砧测杆在工业相机22的正下方。其中，使千分尺的测杆通过限位座3，保证千分尺的平行，将千分尺尺架6置于尺架支撑架4上，让千分尺尺架6放置在压紧结构7内，旋紧结构，保证千分尺在检定过程中的稳定性。打开工业相机22，使其处于工作状态下。手工转动千分尺的微分套筒5，到达一个数值点，记下刻度线示值面数值。发送采集图像指令，工业相机22采集当前的千分尺测砧测杆图像，并传输到PC端中。PC端中的图像处理软件将采集到的图像利用图像算法计算出测砧和测杆两端面间横向像素点总个数，用总个数乘上每个像素点的实际距离值得到最后的实际距离。测砧和测杆间的实际距离与微分筒刻线数值进行比较，从而检定千分尺的测砧和测杆，完成整个检定工作。

本实例利用图像采集结构完成了对千分尺测砧测杆的的图像采集，通过相关程序得到了测砧测杆间的实际距离值，用该实际距离值与微分筒刻度数值进行比较，完成了检定工作，减少了人为操作。检定装置改善了原有的人工手动检定的不足之处，在提高检定效率的同时，也减小了人为的误差。尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。