[实用新型]一种腔室密封结构的半导体加工设备有效
申请号: | 201721193175.4 | 申请日: | 2017-09-18 |
公开(公告)号: | CN207503919U | 公开(公告)日: | 2018-06-15 |
发明(设计)人: | 吴燕发 | 申请(专利权)人: | 南安市品龙新材料科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 362300 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体加工设备 密封结构 传输带 种腔室 本实用新型 封密性 圆棍 指示灯 切面 湿气 间隙配合方式 长方体结构 产品生产 活动连接 紧固设备 数控面板 旋转轴承 支撑面板 传动杆 传动盒 电机箱 对设备 加工器 紧固器 支撑架 传动 底端 滚轮 转轴 渗入 | ||
本实用新型公开了一种腔室密封结构的半导体加工设备,其结构包括传输带、支撑面板、支撑架、电机箱、加工器、数控面板、指示灯、圆棍封密装置,所述传输带为长方体结构,切面为长方形长为7‑8cm,所述传输带左侧底端与旋转轴承采用间隙配合方式活动连接,本实用新型一种腔室密封结构的半导体加工设备,设有圆棍封密装置,通过紧固器紧固设备,传动盒与传动杆进行传动,使得转轴与滚轮旋转加强对设备的封密性,解决了设备封密产品时封密性不足的问题,避免了产品生产出来会渗入湿气产生水分导致无法使用。
技术领域
本实用新型是一种腔室密封结构的半导体加工设备,属于半导体设备领域。
背景技术
半导体,指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。
现有技术公开了申请号为:CN201210423901.2的一种腔室密封结构的半导体加工设备,包括:室体,所述室体内具有反应腔;第一托盘,所述第一托盘设于所述反应腔内,所述第一托盘上设有承载晶片的片槽;电感线圈,所述电感线圈环绕在所述室体的外周,用于加热所述第一托盘,所述第一托盘由多个子托盘构成,所述子托盘之间存在物理间隙。根据本发明的半导体加工设备,通过将第一托盘分成多个子托盘,可有效降低集肤效应对第一托盘的影响,提高了第一托盘温度分布的均匀性,降低第一托盘径向的温度分布梯度,进而使位于片槽内的基片升温更加均匀,提高了半导体加工设备工艺效果,但是其不足之处在于设备封密产品时封密性不足,容易使产品生产出来后会渗入湿气产生水分导致无法使用。
实用新型内容
针对现有技术存在的不足,本实用新型目的是提供一种腔室密封结构的半导体加工设备,以解决设备封密产品时封密性不足,容易使产品生产出来后会渗入湿气产生水分导致无法使用的问题。
为了实现上述目的,本实用新型是通过如下的技术方案来实现:一种腔室密封结构的半导体加工设备,其结构包括传输带、支撑面板、支撑架、电机箱、加工器、数控面板、指示灯、圆棍封密装置,所述传输带为长方体结构,切面为长方形长为7-8cm,所述传输带左侧底端与旋转轴承采用间隙配合方式活动连接,所述支撑面板为长方体结构,切面为长方形长为8-9cm,共设有2块,所述支撑架上端为圆柱体结构,底端为圆盘状结构,上下端焊接为一体化结构,所述电机箱为中空式长方体结构,切面为长方形长为5-6cm,上端与支撑面板底端采用过盈配合方式活动连接,所述加工器为长方体结构,切面为长方形长为4-5cm,底端与支撑面板采用过盈配合方式活动连接,所述数控面板高为5-6cm,底端与支撑面板采用过渡配合方式活动连接,所述指示灯为圆柱体结构,切面为长方形长为4cm,截面为圆形半径为1cm,底端与封盖采用过盈配合方式活动连接,所述圆棍封密装置为圆柱体结构,切面为长方形长为4cm,截面为圆形半径为0.8cm,设在封盖内部,且两端与封盖采用间隙配合方式活动连接;所述圆棍封密装置由紧固器、面板、转轴、传动盒、传动杆、滚轮组成,所述紧固器为圆柱体结构,切面为长方形长为2cm,底端贯穿支撑柱与面板采用过盈配合方式活动连接,所述面板为长方体结构,切面为长方形长为5-6cm,厚度为2cm,所述转轴圆形结构,切面为长方形长为2cm,右侧与传动杆采用过盈配合方式活动连接,所述传动杆切面为长方形长为3cm,底端右侧与传动盒采用过盈配合方式活动连接,所述传动盒为长方体结构,切面为长方形长为4cm,底端与面板采用过盈配合方式活动连接,所述滚轮为圆柱体结构,切面为长方形长为4-5cm,截面为圆形半径为2cm,两端与支撑板采用间隙配合方式活动连接。
进一步地,所述传输带左侧与旋转轴承相互旋转采用间隙配合方式活动连接。
进一步地,所述支撑面板共设有2个,对称平行相隔4cm。
进一步地,所述支撑架上端贯穿电机箱通过螺丝采用过盈配合方式活动连接。
进一步地,所述电机箱底端四角设有半径为0.2cm的圆形通口。
进一步地,所述加工器底端与支撑面板采用过盈配合方式活动连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造