[实用新型]检测系统有效
申请号: | 201721197035.4 | 申请日: | 2017-09-18 |
公开(公告)号: | CN207439372U | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 许轩兢 | 申请(专利权)人: | 香港商微觉视检测技术股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30;G01B11/06 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 梁丽超;田喜庆 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 线扫描相机 光源装置 遮光单元 待测件 光量 亮度资料 扫描信息 运载装置 遮蔽 扫描 表面平整度 处理装置 厚度变化 检测系统 警示信号 位置资料 资料比对 可检测 同一轴 种检测 光源 运载 | ||
一种检测系统包含:线扫描相机、运载装置、遮光单元、光源装置,其间隔地设置于同一轴在线。线扫描相机用以扫描待测件以产生扫描信息;光源装置作为扫描用光源。遮光单元可选择性地改变进入线扫描相机的光量。运载装置用以运载待测件。处理装置能接受扫描信息,据以产生多个位置资料及亮度资料,且能依据默认资料比对各个亮度资料,以选择性地产生警示信号。遮光单元未遮蔽光源装置时,进入线扫描相机的光量定义为1;遮光单元遮蔽部分的光源装置时,进入线扫描相机的光量不大于1/2。如此,可检测出待测件的表面平整度或厚度变化。
技术领域
本实用新型涉及一种检测系统,特别是一种用以检测待测件的表面平整度或厚度变化的检测系统。
背景技术
对于薄膜的相关制造或是应用厂商而言,如何有效地对薄膜进行表面平整度或厚度变化的检测,是最重要的问题之一。现今常见的薄膜表面平整度及厚度变化的检测设备,结构多为复杂且昂贵。为此,对于相关厂商而言,如何以相对简单的结构及相对较低的成本,进行薄膜的检测成为的最重要的课题。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种检测系统,用以解决现有技术中,薄膜的表面平整度或厚度的检测设备,结构复杂、成本高的问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供一种检测系统,其包含:一线扫描相机、一光源装置、一遮光单元、一运载装置及一处理装置。线扫描相机用以撷取一待检测件的表面影像,以对应产生一扫描信息。光源装置设置于线扫描相机的下方,光源装置包含有一出光面,出光面面对线扫描相机设置。遮光单元设置于所述光源装置,且所述遮光单元对应遮蔽由所述出光面射出的部分光束。运载装置设置于线扫描相机及光源装置之间,运载装置用以运载待检测件。处理装置电性连接线扫描相机,处理装置能接受扫描信息,并依据扫描信息对应产生多个位置资料及相对应的多个亮度资料;其中,处理装置能依据一默认资料,比对各个亮度资料,以选择性地产生一警示信号。其中,遮光单元未遮蔽光源装置时,通过出光面而进入线扫描相机的光量定义为1;遮光单元遮蔽部分的出光面时,通过未被遮蔽的出光面而进入线扫描相机的光量不大于1/2。
优选地,检测系统还包含有一警示模块,其电性连接处理装置,警示模块能接收警示信号,以对应产生声音、灯光的其中之一或其组合。
优选地,检测系统还包含有一显示设备,其电性连接处理装置,显示设备能接受并显示多个位置资料及多个亮度资料。
优选地,检测系统还包含有一连动装置,其电性连接处理装置及遮光单元,处理装置能通过连动装置控制遮光单元,以调整遮光单元遮蔽出光面的面积。
优选地,检测系统还包含有一输入设备,其电性连接处理装置,处理装置能依据输入设备所传递的一输入信息,对应控制连动装置,以对应调整遮光单元遮蔽出光面的面积。
优选地,遮光单元能拆卸地固定设置于光源装置。
优选地,光源装置的彼此相对的两端分别具有一第一调整结构,遮光单元的彼此相对的两端分别具有一第二调整结构,遮光单元能通过多个锁固件、第一调整结构及第二调整结构的相互配合,而固定设置于光源装置,并选择性地调整遮光单元遮蔽出光面的面积。
优选地,第一调整结构及第二调整结构分别包含有多个穿孔,第一调整结构的多个穿孔彼此间隔地设置,第二调整结构的多个第二调整结构的多个穿孔彼此间隔地设置,且第一调整结构的多个穿孔与第二调整结构的多个穿孔彼此位置相对地设置。
优选地,检测系统包含有多个遮光单元,各个遮光单元为L型构件,各个遮光单元包含有一固定部及一遮蔽部;各个遮光单元固定设置于光源装置时,固定部对应固定设置于光源装置,遮蔽部对应遮蔽出光面的部分;其中,多个遮光单元的遮蔽部的面积彼此不同。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于香港商微觉视检测技术股份有限公司,未经香港商微觉视检测技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201721197035.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种外观检验平台
- 下一篇:一种X射线测厚仪样板箱