[实用新型]卡托气密性的测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及卡托的检测设备领域，特别涉及一种卡托气密性的测试治具。

背景技术

现有技术中的移动终端一般都是通过独立的卡托来安装SIM卡(Subscriber Identification Module)和存储卡等数据卡，然后再将装载有SIM卡和存储卡的卡托插入到移动终端中，并且现在的很多卡托上都设置有密封件以与移动终端进行密封防水连接，但在现有技术中，设置有密封件的卡托在制造完成后，并不会对其进行气密性测试，或一般仅仅检测密封件与卡托的外形参数，从而间接判断卡托的气密性是否合格，这样就容易出产气密性不合格的产品。

故需要提供一种卡托气密性的测试治具来解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型提供一种卡托气密性的测试治具，其通过向测试腔提供一设定的气压，并保持一定的测试时间，从而检测卡托的气密性功能是否合格，以解决现有技术中不对卡托进行气密性测试，或通过检测密封件与卡托的外形参数间接判断卡托的气密性是否合格，导致容易出产气密性不合格产品的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案为：一种卡托气密性的测试治具，用于测试卡托和卡托槽内侧壁之间的连接气密性，所述测试治具包括盖板、底座以及连接本体；

所述连接本体位于所述盖板和所述底座之间，所述连接本体包括用于与所 述卡托密封连接的通槽，在所述连接本体对向所述盖板的一面上设置有圈状的密封件，所述通槽的一端口位于所述密封件的内侧，所述通槽的另一端与外部空气连通；

当所述卡托密封连接在所述连接本体上时，所述连接本体、所述盖板以及所述密封件内侧壁之间形成用于测试气密性的测试腔，在所述盖板上设置有用于向所述测试腔提供气压的吹气孔。

在本实用新型中，所述卡托的密封圈过盈设置在所述通槽内，过盈干涉量为0.1～0.15mm。

在本实用新型中，在所述连接本体上设置有用于设置所述密封件的设置槽，所述密封件过盈配合在所述设置槽内。

进一步的，在所述密封件的内外两侧设置有凸起部，在所述设置槽的两侧壁上设置有与所述凸起部相对应的凹槽。

在本实用新型中，在所述底座内设置有用于避开所述卡托的第一避位腔，所述底座的底部设置有一使所述第一避位腔与外部空气连通的开口，在所述盖板上设置有用于避开所述卡托的第二避位腔。

在本实用新型中，所述连接本体的四角通过螺栓与所述底座固定连接，在所述连接本体上设置有用于容纳所述螺栓的螺头的沉孔。

在本实用新型中，在所述盖板的一侧设置有用于连接吹气设备的连接头。

在本实用新型中，当所述连接本体、所述盖板以及所述密封件内侧壁之间形成测试腔进行气密性测试时，所述盖板的一面与所述密封件接触，所述盖板与所述密封件接触的一面与所述连接本体之间相距一设定距离。

在本实用新型中，所述盖板、所述底座以及所述连接本体为铁质材料，在所述盖板、所述底座以及所述连接本体上设置有电镀层，所述密封件为橡胶材质。

本实用新型相较于现有技术，其有益效果为：本实用新型的卡托气密性的测试治具通过向测试腔提供一设定的气压，并保持一定的测试时间，从而检测 卡托的气密性功能是否合格，提高卡托出产的合格率；

同时连接本体与底座为分离式结构，这样就可通过更换连接本体以连接不同规格的卡托进行气密性测试。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面对实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，下面描述中的附图仅为本实用新型的部分实施例相应的附图。

图1为本实用新型的卡托气密性的测试治具的优选实施例的结构示意图。

图2为本实用新型的卡托气密性的测试治具的连接本体和底座的结构示意图。

图3为本实用新型的用于测试卡托气密性的盖板的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

现有技术中，设置有密封件的卡托在制造完成后，并不会对其进行气密性测试，或一般仅仅检测密封件与卡托的外形参数，从而间接判断卡托的气密性是否合格，这样就容易出产气密性不合格的产品。