[实用新型]一种半导体测试探针

说明书

技术领域

本实用新型涉及探针工具技术领域，具体为一种半导体测试探针。

背景技术

随着科技的发展，消费者不断地朝着电子产品小巧、轻薄的方向发展，随之对于电子产品的性能检测要求也越来越高，探针已被广泛应用于仪表和测试行业中，是精密测量电阻或者其他电信号最常用的采样手段，探针主要类型：悬臂探针和垂直探针，但是现有的探针由于本身体积过小，在使用后的收容管理以及保存上带来一定的难度，保存不当将直接影响二次使用。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体测试探针，具备能够在探测过程中合理的使用，同时可进行有效的收容管理，避免探针本体的丢失和损害，有效延长使用寿命，提供探测便捷性的优点，解决了上述背景提出的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体测试探针，包括存放标、保护盖、第一探头、探针本体和第二探头，所述探针本体上开设有滑动区，且滑动区两端均刻录有螺纹槽，所述第一探头和第二探头分别焊接在探针本体的两端，所述存放标通过套圈套装在探针本体的滑动区上，所述存放标的一端开设有螺纹腔，所述套圈的表面焊接有与螺纹腔相适配的连接轴，所述套圈通过连接轴与存放标上开设的螺纹腔连接，所述保护盖通过旋转轴转动安装在存放标上，所述存放标上开设有收容槽。

优选的，所述存放标的底端焊接有挂环。

优选的，所述存放标背离旋转轴的一侧嵌入固定有磁铁环。

优选的，所述套圈的内壁上开设有与螺纹槽相适配的反螺纹。

优选的，所述收容槽的槽长与探针本体相适配。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过在存放标的尾端焊接有挂钩，能够实现在收容管理时对存放标的挂放，便于后期的取用，有效提高作业效率。

2、本实用新型通过在存放标上开设有与探针本体相适配的收容槽，能够实现探针本体的收容管理，避免探针本体本身体积过小导致的容易丢失以及损害，有效的保护了探针本体的质量。

3、本实用新型通过滑动区以及早滑动区的两端开设有螺纹槽，套圈的内壁上刻录有雨螺纹槽相适配的反螺纹，便于固定存放标和探针本体，能够根据需要分别使用第一探头和第二探头，达到高效探测和利用的目的。

附图说明

图1为本实用新型的正视图；

图2为本实用新型的存放标俯视图；

图3为本实用新型图1中的A处放大示意图。

图中：1-挂环；2-存放标；3-保护盖；4-第一探头；5-探针本体；6-螺纹槽；7-滑动区；8-套圈；9-第二探头；10-磁铁环；11-收容槽；12-旋转轴； 13-连接轴；14-螺纹腔。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1至3，本实用新型提供的一种实施例：一种半导体测试探针，包括存放标2、保护盖3、第一探头4、探针本体5和第二探头9，探针本体5 上开设有滑动区7，且滑动区7两端均刻录有螺纹槽6，能够根据实际操作的需要对探针本体5的整体进行调整，实现高效操作的目的，第一探头4和第二探头9分别焊接在探针本体5的两端，能够根据操作的需要实现切换探测，达到高效使用的目的，存放标2通过套圈8套装在探针本体5的滑动区7上，套圈8的内壁上开设有与螺纹槽6相适配的反螺纹，能够在切换的过程中，实现套圈8与螺纹槽6螺纹紧固，从而保证探测过程中平稳进行，存放标2 的一端开设有螺纹腔14，套圈8的表面焊接有与螺纹腔14相适配的连接轴 13，套圈8通过连接轴13与存放标2上开设的螺纹腔14连接，能够实现探针本体5与存放标2的安装和分类，便于进行高效的使用和收容管理，保护盖3通过旋转轴12转动安装在存放标2上，存放标2上开设有收容槽11，收容槽11的槽长与探针本体5相适配，存放标2背离旋转轴12的一侧嵌入固定有磁铁环10，存放标2的底端焊接有挂环1，能够用到对探针本体5的收容管理。